IEEE和SEMI簽署了一項關于共同制定納米技術和微電子機械系統標準的協議

根據該理解備忘錄，SEMI和IEEE將確定有關聯絡事宜，說明定期的信息交流計劃并安排定期召開聯合會議。備忘錄中還提供各自委員會會議的最新資料并發布關于納米技術和微電子機械系統標準信息。

IEEE標準協會正在積極推進其納米技術標準，并預計在2005年出臺碳納米管的測量標準。同樣，SEMI的MEMS動議也顯示了對這一標準的關注。

“該備忘錄將對納米技術、MEMS和其他涉及電子裝置性能的新興領域內的標準系列發展起巨大的推動作用，”IEEE標準協會的執行董事Judith Gorman指出，“未來的熱點領域可能包括有機物、分子、碳納米管及硅納米基裝置。這份剛簽署的備忘錄只是我們雙方長期協作的第一步，在此過程中，雙方將互通有無，共享專知，必能互惠互利，造福整個行業。”

“納米技術發展引起廣泛關注的今天，這份協議的制定可謂適逢其時。”SEMI的國際標準和MEMS總監Bettina Weiss說，“我們希望通過在開發周期的早期啟動標準制定工作，加速商業化，降低成本，提高生產率，從而推進整個行業的發展。SEMI所制定的標準將廣泛見于材料、工具和接口等領域，而IEEE標準則主要涉及測試方法、材料、裝置、可互操作性和其它議題。”

SEMI標準項目包括半導體工藝設備和材料制造的各個方面，從晶片制造、測試、組裝及包裝到平面顯示器和MEMS的制造。SEMI在各大市場的高新技術生產領域均占有一席之地，尤其納米技術的重要應用領域——半導體領域。

IEEE除了在碳納米結構標準方面的工作外（即IEEE P1650，“有關碳納米管電子性能測量的標準測試方法”），最近又完成了IEEE 1620?“有機晶體管和材料特征性的測試方法標準”該標準還為評估有機場效應晶體管（OFET）提供了統一的框架，以用作大批量生產的平臺。IEEE正將其有機場效應晶體管項目向設備標準拓展。