RF和微波開關測試系統中的關鍵問題 作者： 時間：2009-07-05 來源：網絡 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 本文引用地址：http://www.104case.com/article/261243.htm 相位失真——隨著測試系統尺寸的擴大，從相同的信號源出來的信號可能會通過不同的途徑傳送至DUT，導致了相位失真。這個指標通常被稱之為傳輸延遲。對一個給定的傳導介質，延遲是與信號路徑長度成正比的。不同的信號路徑長度將會導致信號相位移動，導致錯誤的測量結果。要減少相位失真，要保證信號路經長度的相同。 總結 討論并理解RF/微波開關系統購建中的各種設計參數有利于保證信號和系統的完整性。(作者為美國吉時利公司資深應用工程師DaleCigoy) 上一頁 1 2 3 下一頁
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