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        RF和微波開關測試系統中的關鍵問題

        作者: 時間:2009-07-05 來源:網絡 收藏
        無線通信產業的巨大成長意味著對于無線設備的元器件和組件的測試迎來了大爆發,包括對組成通信系統的各種IC和微波單片集成電路的測試。這些測試通常需要很高的頻率,普遍都在GHz范圍。本文討論了射頻和測試系統中的關鍵問題,包括不同的開關種類,開關卡規格,和有助于測試工程師提高測試吞吐量并降低測試成本的開關設計中需要考慮的問題。

          射頻開關和低頻開關的區別

          將一個信號從一個頻點轉換到另一個頻點看起來挺容易的,但要達成極低的信號損耗該如何實現呢?設計低頻和直流(DC)信號的開關系統都需要考慮它們特有的參數,包括接觸電位、建立時間、偏置電流和隔離特性等。

          高頻信號,與低頻信號類似,需要考慮其特有的參數,它們會影響開關過程中的信號性能,這些參數包括VSWR(電壓駐波比)、插入損耗、帶寬和通道隔離等等。另外,硬件因素,比如端接、連接器類型、繼電器類型,也會極大的影響這些參數。

          開關種類和構造

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/261243.htm
           圖1高頻機電繼電器


            圖2單通道blocking矩陣和non-blocking矩陣


             圖3層疊開關架構


             圖4多重開關(圖示為一個雙重開關)

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