采用多功能混合信號管腳實現汽車IC的高效益低成本測試

另外汽車總線系統需要高壓數字管腳用于功能測試，電壓需求高達20 V。測試設備制造商不得不考慮到這一點。

汽車市場在價格和質量方面的競爭越來越激烈。這意味著半導體制造商不得不尋找高性能、高效益低成本的測試解決方案以降低生產成本，保證利潤空間維持在一定水平。

汽車類器件的發展趨勢是在單一芯片、封裝或模塊中集成各種技術，也就是所謂的“片上系統”。傳感器變得越來越重要。它們用于安全系統，如氣囊、駕駛控制或汽車動力系統。

過去10年市場的高速增長為實現質量、產品面市時間和成本目標設置了嚴峻的挑戰。因此汽車電子的設計過程是未來汽車項目成功的關鍵因素。汽車電子的生命周期對于半導體制造商來說非常重要。研發過程（包括通常的重設計）需要花費12-36個月。汽車款型每6到8年改變一次，但其使用的電子器件更新換代周期僅2到4 年。產品使用時間最少為10年。因此隨著新技術的采用，電子器件可能會改變得更快，同時能夠為汽車制造商創造競爭優勢。

汽車用器件的設計和測試面臨的嚴峻挑戰是成品率和失效率方面的要求。移動電話的失效率允許達0.5%，而汽車器件的失效率必須小于0.005%。新器件的測試需求甚至超過下列要求：ASIC失效率要低于0.0003%，標準器件的失效率必須小于0.0001%，分立器件的失效率不能超過0.00005%。

為了管理不斷增加的設計復雜度并保持設計工作的經濟性，復雜的設計和測試工具必須支持并行和分布式的規范、設計、實現、集成以及測試工作和測試解決方案。

圖2，半導體器件分別工作在14 V 和 42 V電壓。

測試解決方案

器件的復雜性需要高性能、高靈活度的ATE系統，但同時必須提高生產率以保持利潤空間并獲利。實現這一目標必須采用芯片并行測試，這樣才能提高產能并降低測試成本。創造新應用的時間必須盡可能短，以配合新測試程序的生成和維護工作。

對于汽車器件混合信號測試系統，最大的挑戰是在一個全面且成本效益高的解決方案中提供數字、模擬、DSP和電源測試的能力。系統結構必須是可擴展的，以覆蓋汽車電子產品廣泛的測試需求。靈活性和速度可以通過真正的每管腳測試儀的結構實現。高速系統總線必須提供最大的產能和最低的測試成本。高性能儀器必須能夠與數字圖型完全同步。混合信號管腳電子性能必須能夠支持高達50 MHz的高數據傳輸率，提供-2 V ～ +28 V的電壓擺幅。