向FPGA內植入嵌入式軟核的電容在線測試電路

其中，D0~D7為八位數據輸入端口，給內部寄存器裝入40位控制數據，本文采用串行輸入，所以只用到D7位與FPGA相連；CLKIN為外部參考時鐘輸入，本設計采用100M外部時鐘輸入；W_CLK為字輸入信號，上升沿有效;FQ_UD為頻率更新控制信號，時鐘上升沿確認輸入數據有效；VINP和VINN分別為內部比較器的正負輸入端；IOUT為內部DAC輸出端；IOUTB為“互補”DAC輸出端；AVDD和DVDD采用+5V供電。IOUT輸出信號經過濾波器后作為測試電路的激勵信號。

4.測試結果與結論

經過上述系統設計，試驗測得的結果如表1所示。

結果中*表示數據不停變化或者結果超出量程。

通過上述實測值與標準值的比較可以看出本文設計的由FPGA控制的電容在線測試系統具有多量程自動選擇，測試精度高，使用方便等特點，測試范圍達到0.01μF~3μF.經理論分析和試驗證明，該設計具有很強的實用性和可靠性。