基于FPGA的NAND Flash的分區續存的功能設計實現
0 引言
隨著現代技術的發展,越來越多的系統采用NAND Flash芯片實時記錄數據, 越來越大的NAND Flash容量讓系統可以存儲更大量的數據和更長的時間。但是,隨著系統的變得復雜,對數據的存儲也提出了更高的要求。傳統的NAND Flash 控制器每次存儲都是從Flash 的零地址開始,本次存儲任務結束后,當系統再次開啟存儲后,再次從零地址開始存儲。新的數據會寫覆蓋之前的數據,無法實現數據的續存,使得NAND Flash使用起來十分不便;而且數據反復地從零地址開始存儲,造成NAND Flash存儲器的使用上的不均衡,影響其壽命[1]。
本文提出了一種基于FPGA的NAND Flash 分區續存功能的控制器實現方法:NAND Flash控制器根據控制對象的特點,將NAND Flash劃分多個分區,利用其自身的某一空間記錄最新的分區地址信息,控制器在初始化時通過讀取最新的分區地址信息,自動跳過該分區,在下一分區開始存儲,同時更新最新的分區地址信息。通過這種方法,可以靈活地實現NAND Flash 控制器分區續存的功能,解決了數據不能續存的問題,同時也解決了NAND Flash 存儲器的使用的不均衡的問題。
1 電路說明
NAND Flash芯片使用型號是三星公司的K9K8G08U0A,單片容量為1 G x 8 Bit。該芯片總共有8 192 個塊(Block),每個塊中含有64 頁(Page),每頁共2112 個字節(前2 048 個主存儲空間+64 個擴展空間)。芯片容量結構如圖1 所示。
圖1 NAND Flash內部存儲空間結構圖
FPGA 使用型號為Xilinx 公司Virtex II 系列的XC2V1000,芯片內部有5 120 個Slice、40 個乘法器、720 kbit 的RAM 模塊資源、320 個用戶I/O 引腳。
2 NAND Flash控制器設計
2.1 控制器概述
NAND Flash 控制器結構框圖如圖2 所示,一共分為應用層和接口層2 部分,接口層負責與NAND Flash的讀、寫,擦操作的接口;應用層負責調用接口層模塊,同時完成NAND Flash 控制器的控制功能,分區續存功能設計在工作控制模塊中[2]。
圖2 控制器結構框圖
2.1.1 分區設計
本型號NAND Flash 一共有8 192 個塊,塊地址從0~8 191。其中塊0、塊 1 用作狀態存儲區,其中塊0 用于壞塊表的存儲,塊1 用于存儲本次數據記錄用到的最新分區的地址信息;塊2~ 塊8 191 作用數據存儲區,共計8 190 個塊,在本設計中,將這8 190 個塊分為10個分區,分別為分區0~9,每個分區有819 個塊。分區設計結構如圖3 所示[3]。
圖3 NAND Flash分區結構
數據存儲區的每個分區的起始地址和結束地址見表1。
表1 分區起始地址與結束地址
2.1.2 分區工作機理
NAND Flash 控制器上電后,需要先讀取到上一次存儲的NAND Flash 的分區地址信息,所以需要有一塊專門的空間用于存儲該地址[4-5]。在本設計中,利用NAND Flash 的塊1 的第0 頁專門的用于存儲該地址信息,使用分區的起始地址作為分區的地址信息。
最新分區的地址信息需要動態更新。控制器獲取起始地址信息后,根據分區大小,自動計算出下一分區的首地址作為本次存儲操作的起始地址。控制器先將計算后的起始地址信息更新至塊1 的第0 頁處,然后從計算后的起始地址開始,進行數據存儲操作。當數據存儲操作超過本次分區的地址范圍,則控制器在跨分區時,再次計算出下一分區的起始地址,并更新最新分區地址至塊1 的第0 頁處,從而實現了最新分區起始地址的實時更新[6]。
2.1.3 分區地址的存儲
NAND Flash 存儲器塊1 中的第0 頁為最新分區的首地址存儲區,存儲的數據格式如圖4 所示。第0 頁的第0、1 字節為最新分區首地址;第0 頁的其他的數據皆為0xCB,該數據用于大量數據讀取時的檢索,能夠方便地找到最新分區的首地址存儲區。
圖4 分區信息存儲結構
由于塊1 反復地被更新寫入最新分區的起始地址,需要估算塊1 的使用壽命:本次應用中,根據系統的要求,要存儲的數據量為每間隔5 ms 存儲256 個字節,可計算得到存儲的數據量為51 kbit/s,則存滿1 頁需要40 ms,存滿1 塊需要2.56 s,存滿1 個分區需要約38 min, 即大約每隔38 min 就要對塊1 進行1 次寫操作。根據NANDFlash 壽命按10 萬次寫操作計算[7],則NAND Flash 塊1 在本系統中的使用時長約為6.3 萬h,能夠滿足正常的使用需求。
2.1.4 分區狀態機的設計
根據分區機理,FPGA 的工作控制模塊設計了分區相關的狀態機,狀態機流程如圖5 所示,狀態跳轉如下:上電后,狀態機從狀態1 跳轉至狀態2,判斷初始化是否結束。等待初始化結束后,狀態機跳轉至狀態3,讀取塊1的第0 頁中的數據,得到上一次的分區信息;在狀態4 中計算中更新本次要操作的最新的分區地址。狀態機依次跳轉至狀態5、6,將更新后的最新分區地址寫入塊1 的第0 頁,且更新本次操作的塊地址。狀態機跳轉至狀態6,進行正常的數據存儲操作。狀態7、8,9 為正常的連續寫操作狀態。狀態10 時判斷是否超出本分區,如果超出,則跳轉至狀態4 重新計算并更新分區地址,否則跳轉至狀態6 繼續存儲數據。
圖5 狀態機轉換圖
當電路下電,再次上電后,狀態機會跳過上一次操作的分區,從下一分區開始存儲數據,保證了數據存儲的連續性,前一次的存儲的數據不會被本次數據覆蓋,本次數據前一次操作的分區的下一分區進行存儲。
3 驗證情況
驗證的電路框圖如圖6 所示。在NAND Flash控制器中進行驗證,分區功能嵌入在工作控制模塊中,在FPGA 中設計1 個模擬數據源,模擬系統發送的數據,每隔5 ms 寫入256 個字節數據;通過維護串口與上位機進行通信,可以通過上位機啟動控制器工作和停止,讀取塊1 的數據等[8]。
圖6 壞塊表模塊驗證電路框圖
驗證內容分為兩部分,首先為不跨分區的自動續存功能驗證,其次為跨分區的自動續存功能驗證。
不跨分區驗證時,驗證的存儲時長約為1 min。先通過維護串口與上位機發送讀取命令,先讀取塊1 的數據,得到本次存儲前的最新分區信息,然后發送存儲命令,1 分鐘后直接下電重啟,再次讀取塊1 的數據,對比第2 次讀到的最新分區信息,如圖7 所示。存儲前分區信息為0×0CCE,即分區4。存儲后分區信息為0×1001,即分區5。說明本次存儲的數據在分區5,成功跳過了分區4,分區4 為上一次存儲的空間。
圖7 不跨分區試驗結果
跨分區驗證的存儲時長約為45 min,大于38 min,以確保存儲的數據能夠超過1 個分區。先通過上位機發送讀取命令,先讀取塊1 的數據,得到本次存儲前的最新分區信息,然后發送存儲命令,45 分鐘后下電重啟,再次讀取塊1 的數據,對比第2 次讀到的最新分區信息,如圖8 所示。存儲前分區信息為0×1001,即分區5。存儲后分區信息為0×1667,即分區7。說明本次存儲的數據在分區6 和分區7,成功實現了跨過分區的存儲和更新了最新分區地址信息。
圖8 跨分區試驗結果
綜上,通過實驗證明,本文設計的基于FPGA 的自動分區續存功能夠正確地實現,方法簡單便捷,滿足系統對NAND Flash 存儲器芯片的多次存儲的控制需求。
4 結束語
本文提出了一種基于FPGA 的自動分區續存功能的方法,該方法簡單方便的實現了存儲器的分區管理,滿足了數據分區續存的需求,并得到了試驗證明。該方法的分區續存功能準確可靠,目前已經在實際產品中得到了應用和驗證。
參考文獻:
[1] 賈鑫,張少平.基于貪婪策略的NAND Flash存儲器的磨損均衡算法研究[J].計算機科學,2017,44(11).
[2] 劉俊.基于FPGA的FLASH控制器設計[J].電子技術與軟件工程,2016,23(11).
[3] 任勇峰,周濤.基于Flash的侵徹關鍵信號分區存儲方法[J].探測與控制學報,2015,37(5).
[4] 李遠哲,賀海文.嵌入式系統大容量NANDFlash存儲器分區管理設計[J].計算機測量與控制,2019,2.
[5] 濮建福, 李世健.延長E E PROM使用壽命的均勻磨損算法[J].電子設計工程,2016,24(8).
[6] 鄒姍蓉,李杰.基于FPGA的智能分區存儲系統設計[J].電子器件,2016,39(6).
[7] 張卓,任家峪.一種基于NAND Flash基帶數據模擬源的設計與實現[J].太赫茲科學與電子信息學報,2016,14(5).
[8] 張子明, 吳海建, 等. 基于F P G A的閃存XX29F系列讀寫裝置的設計[J].測控技術,2016,35(7).
(本文來源于《電子產品世界》雜志2023年8月期)
評論