創新，跨越歷史與未來的動力之源

　　羅德與施瓦茨公司將參加2017年4月在上海跨國采購會展中心舉辦的第五屆電子設計創新會議(Electronic Design Innovation Conference，EDI CON 2017)。EDI CON享譽全球的美國微波雜志主辦的行業盛會，在中國已經成功舉辦四次，逐漸成為中國電子工業領域一年一度的盛事，是一個由產業推動的會議和展覽，為設計工程師和系統集成商提供針對當今通信、計算、RFID、無線、導航、航空航天及相關市場的最新射頻/微波和高速數字產品和技術信息。這項一年一度的盛事提供半導體、模塊、印刷電路板和系統級的實用設計解決方案，與會者可親身參與體驗。EDI CON China匯集了中國創新前沿和世界領先跨國科技公司的設計師。

　　德國的羅德與施瓦茨公司作為歐洲最大的電子測量儀器公司和全球最大的EMC系統集成公司， 將參加所有的講座、演示及研討會。屆時，羅德與施瓦茨公司將有多位來自德國的專家和中國本地的專家，分別以12個專題講座、兩個專題討論、1個主題論壇演講和15個主題展示，全部參與了大會的電子設計板塊、測量與建模板塊、系統與工程板塊和商業應用板塊，全方位介紹羅德與施瓦茨公司在5G、電磁兼容、元器件、雷達、汽車等領域的最新測試技術和最新的電子測試與測量儀器。

　　主題論壇：

　　哪項技術更適合初期的5G系統：低于6GHz的大規模MIMO還是毫米波?

　　12個主題講座分別為：

　　1. 5G移動通信中的極化碼研究

　　2. 雷達和接收機測試用RF環境的生成

　　3. 汽車雷達干擾測試

　　4. 射頻和微波器件中雜散搜索的先進技術

　　5. 為關鍵EMI信號更快檢測而優化的實時測試設備

　　6. 基于VNA的高速PCB快速精確測試

　　7. 基于矢量網絡分析儀的信號完整性測量

　　8. 射頻前端器件和鏈路上的失真測量

　　9. 利用OTA功率傳感器進行波束賦形設備的校正

　　10. 50 GHz以上的相位噪聲測量

　　11.復雜脈沖場景-當ARB的大小有限時， 如何用高采樣率實 現信號的長時間播放

　　12.非線性參數測試的新方法

　　兩個專題講座分別為：

　　5G OTA技術和Verizon 5G和3GPP新空口的信號產生與分析

　　15個主題展示分別為：

　　1. 5G NR信號產生和分析/V5G

　　2. 5G毫米波測試/802.11ad

　　3. R&S非線性參數測試方案

　　4. THz在片測試系統解決方案

　　5. 全新多端口器件測試解決方案

　　6. PCB特性測試方案

　　7. 城市電磁環境下整車適應性測試方案

　　8. 最新EMI認證測試接收機

　　9. 板級EMI診斷測試方案

　　10.電源完整性測試方案

　　11.最新示波器應用技術

　　12. VI測試儀器系列

　　13.電池壽命測量系統

　　14.毫米波陣列天線的波束指向實時測量

　　15.高功率射頻信號的生成與放大

　　與會代表和參觀者將直接接觸和了解到R&S最新的測試技術以及R&S的核心測試測量儀表、根據客戶需求定制開發電磁兼容和微波射頻測試解決方案。這些新產品和亮點引導著新領域的電子設計發展，成為電子設計領域的專家與工程師共同關注的焦點，R&S公司向行業內的用戶展示了一如既往的承諾：為廣大客戶提供一流的產品、優質的服務以及先進的理念。

　　羅德與施瓦茨公司現歡迎電子工業各個領域的專家與工程師，前來參加中國第五屆電子設計創新會議(Electronic Design Innovation Conference，EDI CON 2017)，交流洽談技術與行業發展的最新動態，羅德與施瓦茨展位號：401