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        效率最好的內存測試電路開發環境

        作者: 時間:2017-02-14 來源:電子產品世界 收藏

          1.概述:整合性內存自我測試電路產生環境-

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/201702/343955.htm

          是從整體的芯片設計切入,利用硬件架構共享的觀念,可以大幅減少測試電路的門數 (Gate Count),并且讓使用者能輕易產生優化的BIST電路。可以自動的判讀內存并將其分群 (Grouping),從產品設計前端大幅提升測試良率、降低測試成本,提高產業競爭力。Brains的五級到七級的彈性化管線式架構,可以滿足快速的需求,目前最高測試的速度已經可以達到1.2GHz,整體BIST電路的門數平均只需200個門數。另外為了簡化嵌入電路的復雜度,Brains只需簡單步驟即可完成電路的設計與嵌入。Brains的先進功能可以大幅縮減DPPM與降低芯片測試成本進而降低整體芯片成本,增加產品的可靠度以及增加產品的競爭力。

          圖1-1. 傳統BIST示意圖

          圖1-2. 傳統Memory Testing解決方案

          圖1-3. 厚翼科技的BIST示意圖

          圖1-4. 厚翼科技的解決方案

          2. Brains架構

          Brains是一個內存測試電路整合性開發環境,基本架構圖如下:

          圖2-1. BRAINS執行架構圖

          Brains 輸入檔:

          RTL Verilog : 包含memory models 的Top HDL design檔案

          Memory Modules : Memory models verilog檔案

          UDM Files : 用戶自定義內存檔案

          Brains 輸出檔:

          RTL Verilog with BIST : 整入BIST電路的top HDL design檔案

          Synthesis Scripts : 合成相關scripts檔案

          RTL BIST Verilog : BIST 電路verilog檔案

          Fault Memory : 整入error bit之memory models

          Test Bench : 供BIST 電路仿真用之Testbench

          3. 功能描述

          BRAINS有下列功能:

          n 支持RTL和Gate-level格式

          n 透過BFL (Brains Feature List)設定BRAINS的功能

          n 自動進行內存判別

          n 自動產生Testbench

          n 自動嵌入 BIST到原設計

          n 自動追蹤 Cock Source

          n 透過UDM (User Defined Memory) 檔案支持用戶自行定義的內存

          4. 實作流程

          Brains實作支援Top-down Flow和Bottom-up Flow,以下針對Top-down Flow加以介紹。

          Brains BFL Flow – Top-down Flow

          本章節介紹如何透過BFL檔案,并搭配Top-down 流程,來產生相對應之BIST電路。本章節提及之example case及相關文件,使用者若有需求,可與厚翼科技聯絡,進行索取。

          4.1 解壓縮 Example Case

          unix% tar xvfz multi_lab.tgz

          unix% cd multi_lab/top_down_lab

          4.2 建立 File-List 檔案 (*.f file)

          完整的File-List 檔案可讓Brains 的執行更加順利,完整的File-List 檔案包含design verilog 檔案所使用的memory model 檔案,相關的standard cell 和macro檔案如下:

          n Design.v (RTL or netlist)

          n Memory.v

          n Standard_cell.v (when your design is netlist)

          n Parameter, e.g. +define+、+incdir+PATH/DIR …

          圖4-1為 run.f 檔案之范例,用戶可依照此格式來產生相對應的File-List 檔案。

          圖4-1. run.f 檔案范例

          4.3 其它輸入檔案

          n 如果使用者有特殊grouping需求,則可提供相關輸入檔案。如:*.def檔案或*.meminfo 檔案。*.def檔案可讓Brains依據實際memory model 擺放位置來做grouping。*.meminfo 檔案則可讓Brains依據使用者想要的grouping架構來執行。

          n Memory model library檔案:此檔案可讓Brains依據其中所定義之power數值,來做為grouping的條件。

          4.4 Memory Model 檢查功能 (Optional)

          Brains 可幫助使用者識別出design 中所包含的memory model。用戶可使用memchecker 指令來檢查所使用到的memory models。詳細執行流程請參考Brains quick start guide文件,附錄A。

          如果design中有memory model無法自動被Brains識別出來時,使用者可自行編寫 UDM 檔案,該檔案用來描述memory models 相關腳位及讀寫行為。詳細定義請參考brains_udm_ug.pdf文件。


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        關鍵詞: 內存測試 Brains

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