內(nèi)存測試 文章 最新資訊

效率最好的內(nèi)存測試電路開發(fā)環(huán)境

• 　　1.概述：整合性內(nèi)存自我測試電路產(chǎn)生環(huán)境-Brains　　Brains是從整體的芯片設(shè)計(jì)切入，利用硬件架構(gòu)共享的觀念，可以大幅減少測試電路的門數(shù)?(Gate?Count)，并且讓使用者能輕易產(chǎn)生優(yōu)化的BIST電路。Brains可以自動(dòng)的判讀內(nèi)存并將其分群?(Grouping)，從產(chǎn)品設(shè)計(jì)前端大幅提升測試良率、降低測試成本，提高產(chǎn)業(yè)競爭力。Brains的五級到七級的彈性化管線式架構(gòu)，可以滿足快速內(nèi)存測試的需求，目前最高測試的速度已經(jīng)可以達(dá)到1.2GHz，整體BIST電路的門
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