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        MENTOR GRAPHICS TESSENT DEFECTSIM 榮獲《電子產品》2016 年度產品獎

        作者: 時間:2017-01-26 來源:電子產品世界 收藏

          Mentor Graphics 公司今天宣布,公司旗下的 Tessent? DefectSim? 產品榮獲《電子產品》雜志 2016 年度產品獎。該獎項旨在表彰于 2016 年度面世且能夠代表創新設計和技術發展的產品,由該雜志社的各位編輯評選。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/201701/343413.htm

          Tessent DefectSim 產品可測量針對模擬或混合信號電路的任何測試的缺陷覆蓋率。設計人員可借助這款工具執行可測試性設計 (DFT) 并選擇更高效的制造測試,以在 (IC) 設計中提高模擬和混合信號電路的質量。此外,它還可以顯示不會增加覆蓋率的測試,以及指示較為簡單或快速的設計是否可以達到更高的覆蓋率,從而使設計工程師可以降低測試成本。這款工具在缺陷覆蓋率測量方面滿足了一級汽車供應商根據 ISO 26262 汽車功能安全標準對汽車 IC 提出的越來越嚴苛的要求。

          Tessent DefectSim 工具與 Mentor 的 Eldo? 和 Questa? ADMS? 仿真器配合使用,以測量在版圖提取型或電路圖網表中可檢測到的開路、短路、極端變化和用戶自定義缺陷或故障模型的幾率加權百分比。相較于對版圖提取型網表中的各個潛在缺陷進行仿真,Tessent DefectSim 產品結合了眾多技術(詳見我們經過同行審閱的論文),既可將仿真的總時間縮短多個數量級,同時又能確保不降低仿真精度或減少測試選擇。

          “這款分析工具已開發數年,也是唯一一款商用型通用模擬故障仿真器。我們非常欣慰,它能夠獲得行業的認可,”Mentor Graphics 混合信號 DFT 工程總監 Stephen Sunter 說道。“在此,我們要感謝眾多客戶的支持,幫助我們評估 Tessent DefectSim 工具,并提供了諸多建設性反饋,從而確保他們的 AMS 設計人員將能擁有數字設計人員在 30 年前便已具備的故障仿真能力,同時也大大促進了數字 DFT 和測試生成自動化的發展。”



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