MENTOR GRAPHICS TESSENT DEFECTSIM 榮獲《電子產(chǎn)品》2016 年度產(chǎn)品獎

　　Mentor Graphics 公司今天宣布，公司旗下的 Tessent? DefectSim? 產(chǎn)品榮獲《電子產(chǎn)品》雜志 2016 年度產(chǎn)品獎。該獎項旨在表彰于 2016 年度面世且能夠代表創(chuàng)新設(shè)計和技術(shù)發(fā)展的產(chǎn)品，由該雜志社的各位編輯評選。

　　Tessent DefectSim 產(chǎn)品可測量針對模擬或混合信號電路的任何測試的缺陷覆蓋率。設(shè)計人員可借助這款工具執(zhí)行可測試性設(shè)計 (DFT) 并選擇更高效的制造測試，以在集成電路 (IC) 設(shè)計中提高模擬和混合信號電路的質(zhì)量。此外，它還可以顯示不會增加覆蓋率的測試，以及指示較為簡單或快速的設(shè)計是否可以達到更高的覆蓋率，從而使設(shè)計工程師可以降低測試成本。這款工具在缺陷覆蓋率測量方面滿足了一級汽車供應(yīng)商根據(jù) ISO 26262 汽車功能安全標(biāo)準(zhǔn)對汽車 IC 提出的越來越嚴(yán)苛的要求。

　　Tessent DefectSim 工具與 Mentor 的 Eldo? 和 Questa? ADMS? 仿真器配合使用，以測量在版圖提取型或電路圖網(wǎng)表中可檢測到的開路、短路、極端變化和用戶自定義缺陷或故障模型的幾率加權(quán)百分比。相較于對版圖提取型網(wǎng)表中的各個潛在缺陷進行仿真，Tessent DefectSim 產(chǎn)品結(jié)合了眾多技術(shù)(詳見我們經(jīng)過同行審閱的論文)，既可將仿真的總時間縮短多個數(shù)量級，同時又能確保不降低仿真精度或減少測試選擇。

　　“這款分析工具已開發(fā)數(shù)年，也是唯一一款商用型通用模擬故障仿真器。我們非常欣慰，它能夠獲得行業(yè)的認(rèn)可，”Mentor Graphics 混合信號 DFT 工程總監(jiān) Stephen Sunter 說道。“在此，我們要感謝眾多客戶的支持，幫助我們評估 Tessent DefectSim 工具，并提供了諸多建設(shè)性反饋，從而確保他們的 AMS 設(shè)計人員將能擁有數(shù)字設(shè)計人員在 30 年前便已具備的故障仿真能力，同時也大大促進了數(shù)字 DFT 和測試生成自動化的發(fā)展。”