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        機器學習或能為延長NAND壽命提供解決方案

        作者: 時間:2016-08-31 來源:Digitimes 收藏

          在今日儲存市場中占有一席之地,而為了延長的使用壽命,近來有研究提出,透過機器學習(Machine Learning)的應用,可讓的儲存容量、耐久性以及資料保存達到最佳化。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/201608/296270.htm

          InformationWeek網站報導,近期數位資料儲存顧問機構Coughlin Associates于快閃存儲器高峰會(Flash Memory Summit)揭露了一篇論文指出,NAND因重覆讀寫而使儲存單元劣化、致使耐用度降低的情況,將可望因機器學習的應用而改善,使其生命周期延長。

          一般來說,Flash存儲器的組成包括了浮閘(Floating Gate)及絕緣層等構造,運作時透過施加高電壓電流以推動電荷、使其突破絕緣層進入浮閘,并在絕緣層的阻隔下,于斷電后仍可將電荷保留在浮閘中不會消失,因而得以將資料儲存下來。

          而當要清除電荷時,則施以反向高電壓以吸引電荷離開浮閘,如此便可清除資料。在這樣的過程中,絕緣層的效能會逐漸衰退,使得要將電荷保留在浮閘上變得日益困難。

          在儲存單元老化后,所需的電壓會更高,但這樣一來絕緣層的損耗會更快,一旦電荷開始滲漏,就會使浮閘的電壓改變,并產生位元錯誤。

          報導認為,一旦了解電荷的滲漏率,便能預測出儲存單元里的資料還能完整保存多久,若儲存單元使用頻率越高,也可預期裝置的使用年限將會縮短。隨著存儲器芯片設計越來越復雜、堆疊層數越來越多,NAND運作時受到各種內外在因素影響的程度也跟著加遽。

          想透過手動的方式對暫存器或電壓等因子進行調配以改善,幾乎是不可能,故提出以機器學習方式來了解固態硬碟()的運作模式,并進行必要之調配,以延長使用周期。

          透過機器學習的應用,可得知存儲器芯片的特征以及資料儲存的模式,并進一步為芯片的運作、及應如何修正運作以延長使用壽命,建立出一套最佳模型。

          這種利用機器學習來延長高容量系統使用壽命的應用已然是一新興領域,早早就投入此領域開發、并已推出相關產品的愛爾蘭新創公司NVMdurance亦贊助了論文研究。

          在NVMdurance版本的機器學習中,是由名為Plotter的機器學習引擎,利用測試資料來調諧運行中之裝置的暫存器來進行。

          NVMdurance的技術主要是讓裝置最初開始使用時,就能在自動化引擎的輔助下,盡可能將電壓控制在最低,以降低對儲存單元的損耗,并監控儲存單元電荷滲漏的情況,此外,亦能為NAND儲存裝置是否應汰舊換新提供相關預測。

          過去NVMdurance的最佳化技術原是以手動執行,然此類做法已不適用于今日復雜度極高的NAND存儲器上,此次與Coughlin Associates的合作研究,將可望讓NVMdurance的產品更上層樓,提升其在該領域之競爭力。



        關鍵詞: NAND SSD

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