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        蓄電池安全檢測技術(shù)的半荷內(nèi)阻測量方法

        作者: 時間:2010-09-16 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          內(nèi)阻曲線族的實(shí)用意義比電壓曲線族大很多,實(shí)用意義大的關(guān)鍵在于具有實(shí)時可比性:因?yàn)樵陔妷呵€族中,有比較意義的是各電池到達(dá)終止電壓的時間,在圖1中表現(xiàn)為拐點(diǎn)之間的水平間距。而在內(nèi)阻曲線族中,有比較意義的是不同放電深度下的不同內(nèi)阻值,在圖2中表現(xiàn)為某水平值下曲線之間的垂直間距。在測量上,前者必須連續(xù)不間斷地采樣計(jì)時,而后者只需在指定時間一次采樣,特別是后者在不同時間下的各組采樣值具有非常有用的比對價(jià)值,即實(shí)時可比性。

          如果說內(nèi)阻曲線族還不夠直觀,可以借鑒圖象處理的思路,引入內(nèi)阻分布“反差”的概念,反差是一種可計(jì)算的單一實(shí)時變量。反差概念的引入,將賦予內(nèi)阻曲線族比電壓曲線族更為積極的學(xué)術(shù)意義和實(shí)用價(jià)值。

          3 電池組放電下內(nèi)阻分布的反差曲線

          在圖象處理中,反差大意味著圖象“鮮明”,反差小意味著圖象“混沌”。同樣,就電池檢測的目的而言,反差大意味著內(nèi)阻分布“鮮明”,這必然意味著判別準(zhǔn)確率的提高。

          可以把內(nèi)阻反差Fcr定義為:

          Fcr=(Rmax-Rmin)/Rmin(1)

          式中:Rmax為內(nèi)阻分布中的最大值;

          Rmin為內(nèi)阻分布中的最小值。

          那么根據(jù)圖2粗略計(jì)算從0%標(biāo)稱放電深度到60%標(biāo)稱放電深度的各點(diǎn)反差數(shù)值列于表1,圖3為依據(jù)表1數(shù)據(jù)繪出的Fcr單一曲線,其中表1數(shù)據(jù)和圖3曲線都停止于60%標(biāo)稱放電深度,原因是模型組中的600A·h單體已達(dá)過放點(diǎn),其真實(shí)電率已經(jīng)等于0%。

          

          表1 Fcr逐點(diǎn)計(jì)算表

          

          圖3所示的單一Fcr曲線比內(nèi)阻曲線族更加直觀的反映了放電深度與內(nèi)阻反差之間的對應(yīng)規(guī)律:當(dāng)放電深度超過最小真實(shí)容量單體的50%(本例已放300A·h)以后,F(xiàn)cr開始迅速增大,并通常在標(biāo)稱放電深度的50%(已放500A·h)處達(dá)到最大值。

          另外從圖3可以看出,若以足夠判別使用的Fcr值(例如Fcr=1.0)為邊界條件,放電深度的滿足范圍大大放松,這意味著完全不需要精確控制放電深度;換句話說,在達(dá)到一定反差之后,放電深度的大小只影響反差,而不降低準(zhǔn)確率。

          最后從圖3還可以看出,增強(qiáng)反差后的Fcr所包括的所有放電深度仍離過放區(qū)很遠(yuǎn),這是半法比容量放電法安全的科學(xué)依據(jù)。

          4 半內(nèi)阻法及判別準(zhǔn)確率

          單從放電內(nèi)阻曲線族出發(fā),至少可以設(shè)計(jì)出2種新的測試。

          4.1 第一種可稱為“內(nèi)阻計(jì)時法”

          該的思路和容量放電法類似,只不過由對電壓拐點(diǎn)(即終止電壓)的監(jiān)測計(jì)時,改為對內(nèi)阻拐點(diǎn)的監(jiān)測計(jì)時,由于電壓拐點(diǎn)對內(nèi)阻拐點(diǎn)存在2倍的依存關(guān)系,把內(nèi)阻拐點(diǎn)的計(jì)時值簡單乘以2,就可方便地推算出真實(shí)容量。

          該方法的優(yōu)點(diǎn)是:比容量放電法安全,比浮充內(nèi)阻法準(zhǔn)確。

          該方法的缺點(diǎn)是:

          1)內(nèi)阻監(jiān)測點(diǎn)不易把握,而監(jiān)測點(diǎn)不準(zhǔn)依然會造成誤差過大甚至誤判;

          2)仍然需要對內(nèi)阻拐點(diǎn)進(jìn)行連續(xù)監(jiān)測和計(jì)時,也就是說,需要研制專門的內(nèi)阻監(jiān)測計(jì)時儀器。

          以上2個缺點(diǎn)都需要在獲取大量實(shí)測數(shù)據(jù)后方可完善,本文不再深入討論。

          4.2 第二種是“半荷內(nèi)阻法”

          該方法的思路是:在電池組粗略地執(zhí)行半荷放電后,對各單體電池作普通巡采,再依內(nèi)阻大小作出判斷。

          從測試流程來看,半荷內(nèi)阻法僅僅增加了半荷放電,其他操作方法和要求與浮充內(nèi)阻法完全相同。以下分析是哪些因素提高了半荷內(nèi)阻法的判別準(zhǔn)確率:

          1)加大了內(nèi)阻反差增強(qiáng)后的反差使檢測更加容易,也使判讀更加可信??尚蜗蟮匕寻牒煞烹娎斫鉃槟z片照相技術(shù)中的“顯影”過程,顯然,充分顯影的照片圖象最清晰。



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