提高系統級芯片測試效率的方法

FastScan測試向量自動生成工具可以針對全掃描IC設計或規整的部分掃描設計生成高質量的的測試向量。其主要特點如下：

1. 支持對全掃描設計和規整的部分掃描設計自動生成高性能、高質量的測試向量；

2. 支持多種故障模型：stuck-at、transition、critical path和IDDQ；

3. 提供超過140條基于仿真的測試設計規則檢查；

4. 提供高效的靜態及動態測試向量壓縮性能；

5. FastScan CPA選項支持在速測試用的路徑延遲測試向量生成；

6. FastScan MacroTest選項支持小規模的嵌入模塊或存儲器的測試向量生成；

7. FastScan Diagnostics選項可以通過分析ATE機上失敗的測試向量來幫助定位芯片上的故障；

8. ASICVector Interfaces選項可以針對不同的ASIC工藝與測試儀來生成測試向量；

9. 支持32位或64位的UNIX平臺(Solaris, HP-PA)及LUNIX操作平臺。

FlexTest的時序ATPG算法使它在部分掃描設計的ATPG領域擁有巨大的優勢，它也可以顯著提高無掃描或全掃描設計的測試碼覆蓋率；其內嵌故障仿真器可以估計功能測試碼的故障覆蓋率，然后在此基礎上生成部分掃描并進行ATPG。其主要特點如下：

1. 可以使用已有的功能測試向量進行故障仿真；計算測試覆蓋率；

2. 針對一般的時序電路或部分掃描電路的進行高效ATPG與故障仿真；

3. FlexTest Distributor選項提供的網絡分布處理技術可以加速ATPG與故障仿真過程；

4. 支持多種故障模型：stuck-at、transition和IDDQ；

5. 提供超過140條基于仿真的測試設計規則檢查；

6. 與FastScan和DFTAdvisor共享數據庫，使得DFT與ATPG流程效率更高。

基于嵌入式壓縮引擎的ATPG算法是下一代ATPG工具的發展趨勢。TestKompress提供的嵌入式壓縮引擎可以作為通用的IP很方便地集成到用戶的設計，EDT(Embedded Deterministic Test)算法在保證測試質量的前提下顯著地(目前可達到100倍)壓縮測試向量數目，同時大大提高了測試運行的速度。其主要特點如下：

1. 在保證測試質量的前提下成百倍地減少測試向量的數目，成百倍地降低測試成本；

2. 引入嵌入式壓縮引擎IP不需要對系統邏輯進行任何更改，對電路的性能沒有任何影響；

3. 支持多種故障模型：stuck-at、瞬態和路徑延遲、IDDQ；

4. 支持多種測試向量類型：Basic、clock-sequential、RAM-Sequential、時鐘PO和多負載；

5. 與FastScan和DFTAdvisor共享數據庫，使得DFT與ATPG流程效率更高。

廣義的BIST技術包括LBIST、MBIST和邊界掃描技術。LBIST技術是指在ASIC、IC或IP內核中自動插入內建自測試電路，以保證較高的故障覆蓋率。由于它不需要在ATE機上加載測試向量，而且可以在芯片的工作頻率下進行實速測試，所以它可以縮短測試時間，降低測試成本。LBIST工具可以自動生成BIST結構(BIST控制器、測試向量發生器和電路特征壓縮器)的可綜合RTL級HDL描述，并快速進行故障仿真以確定故障覆蓋率。Mentor公司提供的LBIST工具BISTArchitect的主要特點如下：

1. 內建自測試技術降低了芯片測試對ATE測試機memory容量的要求；

2. 針對部件或系統進行內建自測試(BIST)的自動綜合、分析與故障仿真，便于進行設計與測試的復用；

3. 實速測試和多頻率測試確保了高性能、高質量的測試設計；

4. 全面的BIST設計規則檢查確保了易用性、減少了設計時間、縮短了設計面市時間；

5.采用MTPI技術能夠在獲得最大故障覆蓋率的同時將對設計的影響減至最低；

6. BIST部件的RTL綜合和與工藝無關，可以保證設計復用；

7. 配合BSDArchetect可實現層次化的LBIST電路連接關系。