LTE發射機ACLR性能的測量技術

　　隨后，可以使用在 Agilent X 系列信號分析儀上運行的 Signal Studio 軟件生成測試信號。生成信號之后，通過 LAN 或 GPIB 將波形下載到信號發生器。將信號發生器的射頻輸出端連接到信號分析儀的射頻輸入端，使用掃描頻譜分析測量 ACLR 性能。在此例中，信號分析儀處于 LTE 模式，中心頻率為 2.11GHz，選擇了 ACP 測量。隨后，通過從 LTE 應用程序中的一系列可用選項中(例如成對或非成對頻譜、鄰近信道和相間信道中的載波類型等選項)，調用適當的參數和測試限制，根據 LTE 標準進行快速一鍵式 ACLR 測量。

　　對于 FDD 測量，LTE 定義了兩種 ACLR 測量方法：一種是在中心頻率和偏置頻率上使用 E-UTRA(LTE);另一種是在中心頻率上使用 LTE，在鄰近和相間的偏置頻率上使用 UTRA(WCDMA)。圖 2 顯示了 E-UTRA 鄰近和相間頻偏信道的 ACLR 測量結果。對于此次測量，選擇 5MHz 載波，由于下行鏈路有 301 個子載波，所以測量噪聲帶寬為 4.515MHz。

　　優化分析儀設置

　　雖然上述的一鍵式測量提供了非常快速、易用、依據 LTE 標準的 ACLR 測量，但是工程師仍然可以對信號分析儀設置進行優化，獲得更出色的性能。有四種方法可以優化信號分析儀，進一步改善測量結果：

　　· 優化混頻器上的信號電平――優化輸入混頻器上的信號電平要求對衰減器進行調整，實現最小的限幅。有些分析儀能夠根據當前測得的信號值自動選擇衰減值。這為實現最佳的測量范圍奠定了良好的基礎。其它分析儀(例如 X 系列信號分析儀)擁有電子和機械衰減器，可以結合使用兩者來優化性能。在這些情況下，機械衰減器只需進行細微的調整便可以獲得更出色的結果，步進大約為 1 或 2dB。

　　· 更改分辨帶寬濾波器――按下分析儀的帶寬濾波器按鍵，可降低分辨率帶寬。注：由于分辨率帶寬降低，所以掃描時間會增加。掃描速度的降低，可以減少測量結果和測量速度的變化。

　　· 啟動噪聲校正――一旦啟動噪聲校正功能，分析儀將會進行一次掃描，以測量當前中心頻率的內部本底噪聲，并將在以后進行的掃描中從測量結果中減去該內部本底噪聲。這種方法能夠顯著改善 ACLR，在一些情況下，改善幅度高達 5dB。

　　· 采用另一種測量方法。除了使用默認的測量方法(集成帶寬或 IBW)之外，也可以采用濾波 IBW 方法。該方法使用了更加陡降的截止濾波器。雖然這種方法會降低功率測量結果的絕對精度，但是對 ACLR 結果沒有不利影響。

　　通過結合使用這些方法，信號分析儀可以利用其嵌入式 LTE 應用程序自動優化 ACLR 測量，實現性能與速度的最佳搭配。對于典型的 ACLR 測量，測量結果可能改善高達 10dB 或更多(圖 3)。如果測量需要最高的性能，那么可以進一步調整分析儀設置。

　　總結

　　符合標準的頻譜測量(例如 ACLR)對于射頻工程師開發下一代無線系統具有極其重要的作用。然而使用 LTE 應用軟件進行測量時，受多種因素的影響，鄰近信道帶寬的變化、發射濾波器的選擇、不同帶寬和不同干擾靈敏度的信道之間的射頻變量的交互使得這些測量非常復雜。應對這一挑戰的實用解決方案是使用安裝有特定標準測量應用軟件的頻譜分析儀或信號分析儀。此組合能夠減少復雜測量中的錯誤，自動配置限制表和指定的測試裝置，確保測量具有出色的可重復性。使用分析儀優化技術可以進一步改善測量結果。