減少雜波干擾的可控硅調速電路設計
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過零檢測電路的最終目標是實現(xiàn)當交流電壓通過零點時取出其脈沖。其工作過程為：當通過正半周較高電壓時，光電管D1，T1導通Vo為低電平，當正半周電壓反向接近零點時D1達不到導通電壓的值而截止，從而使T1截止Vo為高電平；同樣當通過負半周較高電壓時，光電管D2，T2導通Vo為低電平，當負半周電壓正向接近零點時D2達不到導通電壓的值而截止，從而使T2截止Vo為高電平。通過這個正負交越零點時的正脈沖信號向單片機89C2051發(fā)出外部中斷 INT0，單片機根據(jù)該信號，經(jīng)過一定的延時后控制可控硅導通。其電路如圖3所示。
掉電檢測電路是當整流后的電源電壓小于某一值時，認為電源被關閉，此時產(chǎn)生掉電信號，該信號作為單片機外部中斷信號INT1，使單片機進入掉電保護程序。
數(shù)碼顯示電路是用數(shù)碼管將存儲在EEPROM中的電機轉速用數(shù)字顯示出來，可以顯示電機的轉速等級。
導通控制電路通過帶光隔離的雙向可控硅驅動器MOC3052驅動可控硅，實現(xiàn)單片機對控硅的導通控制，從而達到轉速控制的目的。可控硅觸發(fā)電路如圖4所示。
3 軟件設計要點
采用雙向可控硅過零觸發(fā)方式，由單片機控制雙向可控硅的通斷，通過改變每個控制周期內可控硅導通和關斷交流完整全波(或半波)信號的個數(shù)來調節(jié)負載功率，進而達到調速的目的。由于INT0信號反映工頻電壓過零時刻，因此只要在外中斷O的中斷服務程序中完成控制門的開啟與關閉，并利用中斷服務次數(shù)對控制量 N(在每個控制周期內可控硅導通的正弦波個數(shù))進行計數(shù)和判斷，即每中斷1次，對N進行減1計數(shù)。如N≠0，保持控制電平為“1”，繼續(xù)打開控制門；如 N=O，則使控制電平復位為“0”，關閉控制門，使可控硅過零觸發(fā)脈沖不再通過。這樣就可以按照控制處理得到的控制量的要求，實現(xiàn)可控硅的過零控制，從而達到按控制量控制的效果，實現(xiàn)速度可調。
4 結語
在實驗室試驗調試過程中，對直流電機的調速顯得較穩(wěn)定，調速范圍也很寬；但對交流電機的調速過程中，中高速段調速較平穩(wěn)；在低速段調速時電機存在抖動現(xiàn)象，并且速度越低，抖動越嚴重，這也是本設計中要解決的后續(xù)問題。
本文引用地址：http://www.104case.com/article/162534.htm
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