新聞中心

        EEPW首頁 > 手機與無線通信 > 設計應用 > 一種用于射頻和微波測試系統的GaAsSb雙異質結雙極晶體管集成電路DHBT技術

        一種用于射頻和微波測試系統的GaAsSb雙異質結雙極晶體管集成電路DHBT技術

        作者: 時間:2010-05-15 來源:網絡 收藏

        工藝的設計考慮到性能、可靠性和可生產性之間的平衡。從成品率 損失Pareto 圖 Fig. 5 中可以看出發射區/基區短路是影響成品率的主要原因,基區電極柱損失是影響遠小于發射區/基區短路的第二個原因。影響成品率的其它失效模式的影響相對較小,都在測試不確定范圍內。由500個組成的典型電路所達到的成品率已能夠滿足小規模儀器的應用應用。
        一種新的工藝對于Agilent復雜且規模較小的生產其晶片成品率大都如此。造成晶片成品率損失的原因主要有程序錯誤、晶片破裂、工藝和/或儀器問題。我們的經驗顯示GaAsSb/InP雙s并不存在異于其它化合物半導體的特有失效機制和更低的可生產性。

        帶通濾波器相關文章:帶通濾波器設計




        評論


        相關推薦

        技術專區

        關閉
        主站蜘蛛池模板: 齐河县| 南通市| 普洱| 全南县| 衡阳市| 嘉鱼县| 阿拉善右旗| 广灵县| 绥阳县| 梅河口市| 房山区| 焦作市| 故城县| 新田县| 信宜市| 陇西县| 望奎县| 手机| 宣武区| 民丰县| 云龙县| 安化县| 东阳市| 循化| 皋兰县| 广汉市| 延吉市| 辽阳县| 永胜县| 临泉县| 合水县| 开原市| 钦州市| 黑龙江省| 梁平县| 正宁县| 固阳县| 潢川县| 蓝田县| 贵定县| 西乌|