NI參加2012 TD-LTE測試技術研討會

　　美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI)于2012年11月23日參加了由工業和信息化部電信研究院和TD技術論壇聯合舉辦的2012 TD-LTE測試技術研討會。NI在此研討會上發表了題為"重新定義移動通信測試——從研發驗證到制造測試"的精彩演講，演講人NI中國無線通信行業市場經理湯敏被評為"企業演講最佳演講人"。　　

NI中國無線通信行業市場經理湯敏正在進行演講

　　在演講中湯敏為到場嘉賓介紹了NI是如何通過為無線通信領域的工程師和科學家提供豐富的軟硬件工具從而提高測試效率、加速設計創新。NI的無線通信測試方案，采用以軟件為中心的模塊化射頻儀器構架，基于現成可用的模塊化硬件設備，通過豐富的射頻與無線工具包以及IP共享，從TD-LTE到最新的802.11ac，工程師可快速實現從研發驗證到生產測試的一體化流程：對于研發驗證，通過提供基于軟件無線電架構的開放式測試驗證平臺，助力企業和研究院所的自主創新和自主知識產權;對于制造測試，通過提供高速并行式產線測試平臺 ，為企業提供高性價比的一站式測試解決方案 。

　　NI還在現場設置了展臺，向到場的嘉賓展示了NI在無線通信領域的最新產品和技術，其中包括業界首款矢量信號收發儀(VST)，它在單個PXI模塊化儀器中，結合了矢量信號分析儀、矢量信號發生器與用戶可編程的FPGA模塊。對于射頻領域來說，它可以進行多協議多終端并行測試，方便地實現了單套測試系統并行測試四個待測終端，具體包括GSM的校準與綜測、WCDMA的校準與綜測、WiFi測試、Bluetooth測試以及GPS測試等，為進一步提升測試效率降低測試成本提供了一站式解決方案。　　

與會嘉賓在參觀NI的展臺

　　測試技術是TD-LTE發展產業鏈上十分關鍵的一環，未來TD-LTE產業將面對多模多頻的終端發展方向以及移動互聯網時代復雜的網絡環境，而未來商用智能終端尤其是TD-LTE終端的最大消費和生產國是中國，這對今天的測試技術、測試儀器提出了巨大挑戰。NI希望能抓住此機遇，為研發驗證及制造測試的工程師們提供一個統一的平臺，幫助他們降低測試成本，從而提高產品的市場競爭力，來為整個TD-LTE產業發展做好鋪墊。