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        SoC中放大器和ADC的校準

        作者:GaneshRaaja,PushekMadaan 時間:2012-10-09 來源:電子產品世界 收藏

          相關雙采樣

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/137420.htm

          相關雙采樣 () 可用于動態補償偏移誤差。以下給出了實施的方法:

          1. 連接放大器輸入到接地。
          2. 測量輸出。測量的任何非零值都是由于系統偏移誤差而造成的。
          3. 在Offset變量中存儲該值。
          4. 連接放大器輸入到信號。
          5. 測量輸出。
          6. 減去第 2 步中測量到的Offset值,這就得到偏移補償后的結果。
          7. 每次測量都重復第 1 步到第 6 步。

          由于每次測量都涉及偏移測量,因此溫度造成的偏移電壓的任何漂移均可以自動得到補償。  

         

          該系統的不足在于,由于每個周期都要進行兩次測量,因此ADC吞吐量會減少 2 倍。如果不希望降低吞吐量,那么我們可以減少測量偏移電壓的頻率,也就是不必每個測量周期都測量一次偏移,可以每16個或32個測量周期進行一次測量。

          外部電壓參考的增益校準

          我們可用溫度系數極低的高精度外部參考電壓來補償增益誤差。  

         

          以下給出了使用外部參考實施增益補償的步驟:

          1. 連接已知的參考電壓,比如說帶1.225V參考電壓的AD1580B,溫度漂移為50 ppm/°C,連接到放大器輸入。
          2. 測量ADC計數。
          3. 用已知參考電壓和ADC計數來計算增益。
          4. 連接信號到放大器輸入。
          5. 測量ADC計數。
          6. 計算ADC計數的輸入信號和第 3 步中計算的增益。

          現在,將用于偏移補償的以及用于增益補償的外部參考法相結合,我們就能構建全自動化的系統了。圖6顯示了這種系統的實施方案。  

           該方法可提供一個全自動的高精度無誤差系統,其不足之處在于因為外部高精度電壓參考而提高了成本。



        關鍵詞: ADC SoC CDS

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