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        Multitest ECON測試座使用壽命超過450萬次

        —— 成就低測試成本
        作者: 時間:2011-04-26 來源:Multitest 收藏

          面向集成設備制造商(IDM)和最終測試分包商,設計和制造測試分選機、、測試負載板的領先廠商公司,日前宣布其知名的ECON再次證明其非凡的低測試成本,該最近在一家亞洲測試廠的使用壽命超過450萬次。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/118987.htm

          該客戶用八個測試位的配置,連續1年半每天產量在10萬個以上,沒有因測試座磨損而導致的測試單元停機時間。此外,該出色的測試座性能帶來99%的穩定測試合格率。

          ECON測試座是針對小尺寸小間距器件(例如QFN)的大功耗應用而推出的。它亦可用于SO、QFP封裝,引腳間距最小為0.25毫米。

          的專有涂層可確保長期使用壽命和高初檢合格率。高初檢合格率得益于精密的測試片幾何設計和新型塑料材料的應用,該材料可避免熱膨脹。每根測試針高達0.45 N的接觸力保證了電性測試結果的高度重復性。此外,ECON測試座可以與現有RFC測試座和第三方測試座類型兼容負載板。它也支持常溫-高溫-低溫等所有溫度范圍內的plunge-to-board應用。

          在這種實際測試單元配置中,整體性能也得益于的Plug & Yield服務。客戶使用ECON時結合Multitest MT9928測試分選機。Plug & Yield標志著所有測試單元各部分的最佳統一。Multitest設計并制造測試座、電路板和測試分選機,這在業界是獨一無二的。



        關鍵詞: Multitest 測試座

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