2008年12月8日，中芯宣布首批45納米產品通過良率測試

　　2008年12月8日，中芯國際集成電路制造有限公司宣布其第一批45納米產品已成功通過良率測試，此時距2007年12月該公司與IBM簽訂45納米低功耗和高性能bulkCMOS(互補金屬氧化物半導體)技術許可協議不到1年時間。