博客專欄

        EEPW首頁 > 博客 > 功率半導體器件AQG324試驗認證,IGBT測試就選廣電計量檢測

        功率半導體器件AQG324試驗認證,IGBT測試就選廣電計量檢測

        發(fā)布人:IC20200426 時間:2020-07-20 來源:工程師 發(fā)布文章

        功率半導體器件AQG324試驗認證

         

        功率模塊作為新能源汽車動力、電源系統(tǒng)中的核心器件迎來了黃金發(fā)展期,目前中高端功率模塊市場仍處于外資壟斷的格局,國產(chǎn)功率模塊技術(shù)及性能還有待進一步完善,并且由于汽車級功率模塊標準長期缺失,國產(chǎn)模塊可靠性驗證未能得到國際認可。

        解決方案

        AQG324ECPE"汽車電力電子模塊認證"工作組頒布,其制定了完善的車規(guī)級功率模塊可靠性試驗,可以有效驗證產(chǎn)品可靠性,指導廠商更深入了解其產(chǎn)品可靠性能,從而加快產(chǎn)品開發(fā)速度,優(yōu)化工藝流程。

        廣電計量專家團隊深入解讀AQG324及相關標準,建立功率模塊可靠性驗證技術(shù)能力,可以為功率半導體產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)提供具有權(quán)威性的AQG324檢測驗證報告。

        試驗項目

        模塊檢測靜態(tài)參數(shù)、動態(tài)參數(shù)、連接層檢測(SAM)、IPIMOMA

        模塊特性測試寄生雜散電感、熱阻值、短路耐量、絕緣測試、機械參數(shù)檢測

        環(huán)境測試熱沖擊、機械振動、機械沖擊

        壽命測試:功率循環(huán)(PCsec)、功率循懷(PCmin)、高溫存儲、低溫存儲、高溫反偏、高溫棚偏置、高溫高濕反偏

         

        覆蓋標準

        · DIN EN ISO/IEC 17025:General Requirements for the Competence of Testing and Calibration Laboratories

        ·IEC60747系列∶Semiconductor DevicesDiscrete Devices ·IEC60749系列∶Semiconductor Devices-Mechanical and Climatic

        Test Methods

        · DIN EN 60664系列∶Insulation Coordination for Equipment Within

        Low-Voltage Systems

        · DIN EN 60069系列∶Environmental testing · JESD22-A192009:Low Temperature Storage Life




        IGBT功率器件AQG324試驗認證聯(lián)系:

        李經(jīng)理 138 0884 0060

        lisz@grgtest.com

         

        *博客內(nèi)容為網(wǎng)友個人發(fā)布,僅代表博主個人觀點,如有侵權(quán)請聯(lián)系工作人員刪除。



        關鍵詞:

        相關推薦

        技術(shù)專區(qū)

        關閉
        主站蜘蛛池模板: 余庆县| 天门市| 锦州市| 吴旗县| 兰溪市| 鲁甸县| 大名县| 即墨市| 陕西省| 克什克腾旗| 临漳县| 瓦房店市| 汶上县| 南华县| 兴仁县| 沙坪坝区| 华蓥市| 伊川县| 日照市| 抚松县| 新河县| 天等县| 桐庐县| 大厂| 咸宁市| 北宁市| 马山县| 木兰县| 洛南县| 中牟县| 房产| 浙江省| 宁远县| 山丹县| 陵川县| 巴彦县| 九江县| 潢川县| 株洲县| 郑州市| 罗田县|