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        test&measurement 文章 最新資訊

        Test Advantage 收購Microstats

        • ?? Boston Semi Equipment Group(BSE 集團(tuán))旗下公司 Test Advantage 宣布已經(jīng)收購了位于菲律賓的一家面向自動測試設(shè)備 (ATE) 市場的硬件維修中心 Microstats, LLC。這兩家公司將整合它們的產(chǎn)品、解決方案和共同的客戶群,以增強(qiáng) Test Advantage 在后端半導(dǎo)體市場的產(chǎn)品和服務(wù)。 ???
        • 關(guān)鍵字: Test Advantage   Microstats  自動測試設(shè)備  

        基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)

        • 挑戰(zhàn):通過PXI 控制板卡和LabVIEW軟件,構(gòu)建一套比較完整齊全的PCB板的功能測試(FCT)系統(tǒng),利用該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對音頻視頻以及各種靜態(tài)參數(shù)(電壓、電流、頻率)的綜合性全自動測試,對于新開發(fā)生產(chǎn)的PCB板,工廠無需頻
        • 關(guān)鍵字: Functional  LabVIEW  Circuit  Test    

        NI今日發(fā)布 Measurement Studio 2009

        •   美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)于今日發(fā)布了Measurement Studio 2009,幫助使用Microsoft Visual Studio 2008、Visual Studio 2005或Visual Studio .NET 2003的工程師縮短創(chuàng)建測試及測量應(yīng)用的開發(fā)時間。Measurement Studio 2009通過提供集成 I/O支持、本地庫和用戶界面更新等功能簡化了數(shù)據(jù)采集、分析和顯示。軟件引入了對最新PC技術(shù)的支持,包括64位 .NET應(yīng)
        • 關(guān)鍵字: NI  軟件  Measurement Studio  

        NI發(fā)布Measurement Studio 8.1,進(jìn)一步簡化遠(yuǎn)程監(jiān)控功能的操作

        •  工程師們現(xiàn)在可以輕松實(shí)現(xiàn)對于分布式測試系統(tǒng)的遠(yuǎn)程監(jiān)控 美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)宣布了Measurement Studio8.1版本的發(fā)布,這是一套基于Micorsoft Visual Studio,并專用于測試、測量和自動化應(yīng)用的完整類庫和用戶界面控件。Measurement Studio 8.1簡化和加速了使用全新網(wǎng)絡(luò)變量的遠(yuǎn)程監(jiān)控過程,這些網(wǎng)絡(luò)變量幫助工程師在Microsoft&n
        • 關(guān)鍵字: 8.1  Measurement  NI  Studio  測量  測試  遠(yuǎn)程監(jiān)控功能  

        NI發(fā)布Measurement Studio 8.1簡化遠(yuǎn)程監(jiān)控功能的操作

        • NI發(fā)布Measurement Studio 8.1,進(jìn)一步簡化遠(yuǎn)程監(jiān)控功能的操作 工程師們現(xiàn)在可以輕松實(shí)現(xiàn)對于分布式測試系統(tǒng)的遠(yuǎn)程監(jiān)控 美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)宣布了Measurement Studio8.1版本的發(fā)布,這是一套基于Micorsoft Visual Studio,并專用于測試、測量和自動化應(yīng)用的完整類庫和用戶界面控件。Measurement Studio 8.
        • 關(guān)鍵字: 8.1  Measurement  NI  Studio  簡化遠(yuǎn)程監(jiān)控功能  通訊  網(wǎng)絡(luò)  無線  消費(fèi)電子  消費(fèi)電子  

        科利登獲《測試與測量世界》Best in Test Award

        • 科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼:CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《測試與測量世界》雜志授予的”Best in Test award”(譯:最佳測試獎)獎項(xiàng)。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費(fèi)類芯片測試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測試系統(tǒng),它采用先進(jìn)科技,集成了更多更好的特性功能。Sapph
        • 關(guān)鍵字: Award  Best  in  Test  測試與測量世界  科利登  測試測量  
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