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        科利登獲《測試與測量世界》Best in Test Award

        • 科利登系統有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達克代碼:CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統榮獲2006年度《測試與測量世界》雜志授予的”Best in Test award”(譯:最佳測試獎)獎項。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費類芯片測試系統。Sapphire D-10是一款極緊湊的測試系統,它采用先進科技,集成了更多更好的特性功能。Sapph
        • 關鍵字: Award  Best  in  Test  測試與測量世界  科利登  測試測量  
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