科利登獲《測試與測量世界》Best in Test Award

科利登系統有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達克代碼：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統榮獲2006年度《測試與測量世界》雜志授予的”Best in Test award”（譯：最佳測試獎）獎項。

Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費類芯片測試系統。Sapphire D-10是一款極緊湊的測試系統，它采用先進科技，集成了更多更好的特性功能。Sapphire D-10的設計充分地考慮了不管是量產測試還是工程驗證的不同測試要求。
《測試與測量世界》主編Rick Nelson說：“2006年度Best in Awards獎項只頒給那些能給測試界帶來重大技術革新的新產品。我們的編輯之所以選擇科利登的Sapphire D-10做為該獎項的獲獎者是因為該款系統綜合了高速的數據交換網絡，基于FPGA的高度靈活性以及高密度的CMOS集成來提高系統測試各種消費類芯片的產能和效率。“
科利登系統公司總裁兼首席執行官Dave Ranhoff（中文名:任永浩）說：“我們非常高興能榮獲該獎項。做為一種革新的測試系統設計理念，并結合科利登的先進技術，Sapphire D-10迅速地獲得了全世界市場的接受和認可。事實上，該系統首先在北美和亞洲的多個IDM和 OSAT工廠被采用正好證明了它在降低內置MCU，顯示驅動控制和無線基帶芯片測試成本時的重大成果。“