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基于LFSR優(yōu)化的BIST低功耗設(shè)計
- 在BIST(內(nèi)建自測試)過程中，線性反饋移位寄存器作為測試矢量生成器，為保障故障覆蓋率，會產(chǎn)生很長的測
試矢量，從而消耗了大量功耗。在分析BIST結(jié)構(gòu)和功耗模型的基礎(chǔ)上，針對test―per―scan和test―per―clock兩大BIST類型，介紹了幾種基于LFSR(線性反饋移位寄存器)優(yōu)化的低功耗BIST測試方法，設(shè)計和改進可測性設(shè)計電路，研究合理的測試策略和測試矢量生成技術(shù)，實現(xiàn)測試低功耗要求。 - 關(guān)鍵字： LFSR BIST 低功耗設(shè)計
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