- “從目前看，國外IC測試設備廠商之間的并購，對國內用戶來說不是好消息，設備過分集中在大公司手中，會使我們采購設備價格的談判余地更小。”這是中國電子標準化研究所副總工程師、集成電路測試驗證實驗室主任陳大為日前就IC測試設備大廠愛德萬有意兼并惠瑞捷一事發表的看法。由此看來，擺脫對國外測試設備的依賴，發展本土IC測試設備業，滿足國內快速發展的集成電路產業需求迫在眉睫。
高端IC測試設備國際大廠絕對領先
測試業作為IC產業的重要一環，其生存和發展與IC產業息息相關。世界先進
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惠瑞捷 IC測試
- 1 引言 本文主要討論芯片開發和生產過程中的IC測試基本原理，內容覆蓋了基本的測試原理，影響測試決策的基本因素以及IC測試中的常用術語?！ ? 數字集成電路測試的基本原理 器件測試的主要目的是保證器件
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芯片 IC測試 原理
- EDA工具加速IC測試
隨著IC制程節點從90nm向65nm和45nm延伸，需要測試的數據量會激增，相應地會帶來測試成本的提高(圖1)。例如，從90nm到65nm時，由于增加了門數，傳統的測試量急劇增加;同時，在速(at-speed)測試也成倍增加，這是由于時序和信號完整性的敏感需求;到了45nm時代，在前兩者的基礎上，又增加了探測新缺陷的測試。
為了提高測試效率，對測試數據的壓縮持續增長。據ITRS(國際半導體技術發展路線圖)預測(圖2)，2010年的壓縮需求比2009年翻番。
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EDA IC測試 65nm 45nm 201001
- 微機電(MEMS)前景看好，設備商機更誘人，但由于MEMS產品高度客制化的特性，在測試設備上不若以往的IC制程，有一套標準化的流程，因此在開發MEMS設備時，不僅需有硬件的底子，更加強調所謂的軟實力，也就是軟件開發，這對臺系設備廠來說，恐怕將是一大挑戰。
臺系設備廠跨入MEMS領域者少之又少，在測試領域目前只有致茂切入，從致茂的發展歷程來看，由過去在電力電子領域建立基礎，其IC測試設備不同于同業使用通用模式設計，而是針對客戶客制化設計，與同業最不同的在于強調Turnkey Solution，提供
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微機電 MEMS IC測試
- 由于鋰電池的體積密度、能量密度高，并有高達4.2V的單節電池電壓，因此在手機、PDA和數碼相機等便攜式電子產品中獲得了廣泛的應用。為了確保使用的安全性，鋰電池在應用中必須有相應的電池管理電路來防止電池的過充電、過放電和過電流。鋰電池保護IC超小的封裝和很少的外部器件需求使它在單節鋰電池保護電路的設計中被廣泛采用。 然而，目前無論是正向（獨立開發）還是反向（模仿開發）設計的國產鋰電池保護IC由于技術、工藝的原因，實際參數通常都與標準參數有較大差別，在正向設計的IC中尤為突出，因此，測試鋰電池保護IC的實際工
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IC測試 鋰電池
ic測試介紹
IC測試
任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設計的單片模塊，IC測試就是集成電路的測試，就是運用各種方法，檢測那些在制造過程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品。如果存在無缺陷的產品的話，集成電路的測試也就不需要了。由于實際的制作過程所帶來的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無論怎樣完美的產品都會產生不良的個體，因而測試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。
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