- 顯微鏡的STM原理與AFM工作原理STM概述1982年，國際商業機器公司蘇黎世實驗室的G..Binnig和HeinrichRohrer及其同事們共同研制成功了世界上第一臺新型的表面分析儀器—掃描隧道顯微鏡(ScanningTunnelingMicroscope...
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顯微鏡 STM原理 AFM
- 半導體工業目前已經進入65納米及以下技術時代，關鍵特征通常為納米級，如此小特征的制造工藝要求特殊的測量儀器，以便能夠表征出納米級幾何尺寸，從而檢驗出任何偏離工藝規格中心值的情況，確保與設計規格保持一致。
- 關鍵字：
AFM 65 nm 測量技術
- Asylum Research近日宣布將對其原子力/掃描探針顯微鏡（AFM/SPM）產品提供2年的標準性保證，包含Ayslum MFP-3D和Cypher AFM線上完整AFM系統的零部件和人力維護。在普通使用過程中產生的問題，Asylum將為客戶提供零成本維修。這項新的維護是對Asylum的6個月無條件退款保證的補充，為客戶提供更新更高標準的保護。
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Asylum AFM/SPM
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