一、簡介AMC0106M05 是一款輸入電壓范圍為 ±50mV 的功能隔離式精密 Δ-Σ 調制器。隔離柵將在不同共模電壓電平下運行的系統(tǒng)器件隔開。隔離柵支持高達 200VRMS/280VDC 的工作電壓,以及高達 570VRMS/800VDC 的瞬態(tài)電壓。AMC0106M05 具有小封裝尺寸和低輸入電壓范圍,專為在空間受限的應用中實現(xiàn)高精度、隔離式電流檢測而設計。電隔離柵支持高共模瞬變,并且可以將敏感控制電路與功率級的開關噪聲隔離開來。AMC0106M05 的輸出位流與外部時鐘同步。該器件與 sinc3、
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德州儀器 機器人 測試測量
英國劍橋 – 2025 年 7 月 1 日 – 作為基于 PC 測試和測量儀器市場領導者的 Pico Technology, 非常自豪地宣布,推出其 PicoScope 9400A 系列高帶寬采樣示波器的擴展產品。該產品的設計是為了滿足人們對高速電子、通信、半導體研究以及各種高能物理應用的日益迫切的需求。 PicoScope 9400A 系列以 Pico 的 SXRTO 技術為基礎構建,隨著本次推出,將為先前發(fā)布的 25 GHz 版本增加三種型號,用戶可以選擇 6 GHz、16 GHz
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PICO 測試測量 示波器
為什么使用 S參數(shù)?為什么要使用S參數(shù)這個問題經常會被問到。其實在技術演進的過程不僅僅有S參數(shù),但是最終科學家和工程師們發(fā)現(xiàn)使用S參數(shù)能更加方便地描述一個無源鏈路。從模擬的角度捕獲數(shù)字信號數(shù)字信號 vs.模擬信號數(shù)字信號 = 模擬信號 (包含正弦波)正弦波的變化 - 輸出是什么?什么是 S參數(shù)?S參數(shù)是一個復數(shù)矩陣,反映了在頻域范圍內的反射信號 / 傳輸信號的特性(幅度/相位)。S參數(shù)表達式Smith Chart - 史密斯圓圖:更直觀地進行阻抗變換Smith Chart - 史密斯圓圖在某個頻率點,可以
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模擬電路 測試測量 S參數(shù)
一、測試目的DDR3的測試分為三類:1、直流參數(shù)測試(DC Parameter Testing):校驗工作電流、電平、功率、扇出能力、漏電流等參數(shù)特性。內存的工作電流與功耗、負載有關,工作電流過高時,將造成功耗過高,給系統(tǒng)造成的負載過大,嚴重情況下將造成系統(tǒng)無法正常工作。存儲芯片也存在漏電流,當漏電流超出閾值時可能造成系統(tǒng)無法正常工作。2、交流參數(shù)測試(AC Parameter Testing):檢測諸如建立時間、保持時間、訪問時間等時間參數(shù)特性。3、可靠性測試(Functional Testing):測
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內存 DDR3 測試測量
在現(xiàn)代數(shù)據中心中,需要應對的更棘手的問題之一是通過越來越多的高速鏈接進出數(shù)據。要測試這些高速鏈路和PCB,您需要像Rohde & Schwarz R&S ZNB 3000這樣的高端網絡分析儀。據說它是市場上最快的生產測試產品之一,具有非常低的本底噪聲。除了速度之外,R&S ZNB3000 矢量網絡分析儀還具有精度和多功能性,具有行業(yè)領先的動態(tài)范圍、快速的測量速度和可擴展的升級,可應對要求苛刻的應用。R&S RTP 高性能示波器是另一個有用的工具,將高級信號完整性與
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現(xiàn)代數(shù)據中心 測試測量
分享一個EMI整改文檔,對于EMC來說,接觸的案例越多,整改的成功率就越高,整改的方法也越多,從案例中吸取教訓,總結經驗,避免設計中出現(xiàn)同樣的問題。注意:按照文檔描述,從下面兩張圖片可以看出470MHz和940MHz(二次諧波)左右,這兩個頻點的功率非常高,可能該產品是一款無線產品,對于主頻--有意輻射頻率來說是有豁免權的,所以只需要注意200MHz之前的頻段,由于頻譜超標帶寬較寬,可以肯定非時鐘、晶振輻射超標引起,幾乎肯定輻射源在電源了,不過最后的結果,電源部分雖然PASS了,但是后面又引起了其他的頻點
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EMI測試 測試測量
示波器是最重要也是最基礎的工具。基本上電子專業(yè)都會問到這個問題。尤其做硬件測試的時候,示波器更是需要如同使用筷子一樣的熟練度。示波器最重要的三個參數(shù):帶寬、采樣率、存儲深度。一、示波器的帶寬:輸入信號衰減 3dB 所在的最低頻率稱為示波器的帶寬。(帶寬定義:示波器帶寬的定義沒有變,就是輸入一個正弦波,保持幅度不變,增加信號頻率,當示波器上顯示的信號是實際信號幅度的70.7%(即3dB衰減)的時候,該對應的頻率就等于示波器帶寬。)使用正弦波信號發(fā)生器,在掃描頻率上測試示波器的帶寬和頻率響應。信號 -3 dB
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示波器 測試測量
隨著過去傳統(tǒng)的“開環(huán)”系統(tǒng)被智能和高效率“閉環(huán)”設計所取代,準確的電流檢測在多種應用中變得越來越重要。常見的電流檢測方法,需要將檢流電阻串聯(lián)進被測電流通路,再用放大電路放大檢流電阻上的壓降。這個放大電路常被稱之為電流檢測放大器,其越來越被廣泛地運用于汽車、通信、消費電子等領域。分立方案集成方案對于電流檢測放大器電路設計目前主要可以分為分立方案以及集成方案下面小編主要為大家梳理比較一下分立及集成方案的特點基礎知識01分立運放搭建的差分放大器方案這是一個分立運放搭建的差分放大器(下文簡稱為分立方案)增益當滿足
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電流 測試測量
示波器因為有探頭的存在而擴展了示波器的應用范圍,使得示波器可以在線測試和分析被測電子電路,如下圖:示波器探頭的作用探頭的選擇和使用需要考慮如下兩個方面:其一:因為探頭有負載效應,探頭會直接影響被測信號和被測電路;其二:探頭是整個示波器測量系統(tǒng)的一部分,會直接影響儀器的信號保真度和測試結果。01探頭的負載效應當探頭探測到被測電路后,探頭成為了被測電路的一部分。探頭的負載效應包括下面3部分:阻性負載效應;容性負載效應;感性負載效應。探頭的負載效應阻性負載相當于在被測電路上并聯(lián)了一個電阻,對被測信號有分壓的作用
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示波器 測試測量 探頭
什么是電流檢測電阻?在許多通用電子應用中,通常都需要電流感應來監(jiān)控和控制應用。例如:電池充電器電路需要電流感應技術從驅動器、控制器的角度確定充電電流。不同類型的電流傳感器具有不同的電流傳感技術,用來測量或者檢測電流。電流檢測最常用且最具成本效益的解決方案是分流電流傳感器,也就是檢測電阻。電流檢測電阻類似于普通電阻,但具有非常低的電阻額定值和高額定功率。這些具有已知電阻值 (R) 的分流電阻放置在電流傳導路徑中,可以讓要測量的全部電流 (I) 流過電阻。電流檢測電阻電流檢測電阻工作原理分流意味著為電路提供不
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電流 測試測量
01哪根筋搭錯了要去研究一下無源探頭一切都起源于一個問題:能不能把1X的無源探頭當同軸線去匹配50歐姆或者75歐姆的系統(tǒng)?有經驗的人會立刻回答不能,因為就算是1X的探頭上面也串接了一個不小的電阻。我手邊正好有一個報廢的探頭,拿萬用表測了一測,內芯的電阻有300多歐姆!外導體倒是正常的零點幾歐姆。這樣一條“同軸線”顯然不能拿去匹配50歐姆或者75歐姆的系統(tǒng)。問題看起來是解決了,可這又加深了我對無源探頭的疑問:問什么探頭上要串那么大的電阻,又為什么1X探頭的帶寬比10X探頭小那么多?02拆根探頭看看里面有啥要
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示波器 測試測量
摘要:CAN的BusOff源于錯誤幀的積累,而錯誤幀這個東西,是一個接收節(jié)點 認為數(shù)據有誤 故意打斷通信,好讓發(fā)送節(jié)點感知到 并重發(fā)報文的設計。注意這里邊有個“我覺得你有病”的認知陷阱,讓CAN的診斷變得近似玄學。本文分享一種用CAN波形的幅度和脈寬信息來精確定位錯誤幀來源的方法,來自知乎的大燈。我們先從基礎的講起。CAN節(jié)點的電路一般如下圖所示,MCU內置了CAN控制器用來將MCU的數(shù)據封裝為CAN幀格式,同時它也負責CAN幀的校驗和錯誤幀的處理。控制器封裝好的邏輯報文經TX RX送到CAN收發(fā)器,將邏
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CAN總線 測試測量 示波器
如何確定時基假如要測量的波特率為9600, 則每一比特位的時間為:1/9600 ≈ 104 μs,一般示波器橫向上每個大格子里5個小格子,要想看清一比特位一般需要一個小格子就夠了,則時基為:104 μs * 5 = 520 μs, 也就是說時基要500 μs。注意:測量時選擇的耦合方式為直流,邊沿類型為下降沿,所測串口的電平為TTL 電平,該電平的串口在不傳輸數(shù)據時電平為高,靠拉低判斷起始位。下圖是測9600波特率,所發(fā)數(shù)據為0x55:所用示波器為漢泰的 IDSO1070。從光標測量可以看出AB之間的時間
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示波器 測試測量
如何分析一個電磁兼容的問題?分析一個電磁兼容的問題需要從三個方面入手:騷擾源敏感源耦合路徑找到這三個因素后,再決定去掉哪一個。只要去掉一個,電磁兼容的問題就解決了。例如,當騷擾源是雷電,敏感源是電子線路時,我們能做的就是消除耦合路徑(因為沒法去掉騷擾源,我們沒法讓自然界不產生雷電吧)。耦合路徑分為傳導耦合路徑和空間耦合路徑。最容易判斷的是電磁騷擾的敏感源,實際上大部分的電磁兼容的問題都是先從發(fā)現(xiàn)干擾的現(xiàn)象起因的,因此,最先關注的應該是敏感源。比較容易判斷的是電磁騷擾源,我們通過實驗和分析,可以確定導致電磁
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電磁兼容 信號調理 測試測量
當一個產品無法通過EMI 測試﹐首先就要有一個觀念﹐找出無法通過的問題點﹐此時千萬不能有主觀的念頭﹐要在那些地方下對策。常常有許多有經驗的 EMI 工程師﹐由于修改過許多相關產品﹐對于產品可能造成 EMI 問題的地方也非常了解﹐而習慣直接就下藥方﹐當然一般皆可能 非常有效﹐但是偶而也會遇到很難修改下來﹐最后發(fā)現(xiàn)問題的關鍵都是起行認為不可能的地方﹐之所以會種疏失﹐就是由于太主觀了。因此﹐不論產品特性熟不熟﹐我們都要逐一再確認一次﹐甚而多次確認。這是因為造成EMI 的問題往往是錯綜復雜﹐并非單一點所造成。故反
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EMI測試 測試測量
測試測量介紹
電子測試測量儀器:示波器(數(shù)字、模擬、手持式)、信號發(fā)生器(任意波、調頻調幅、音頻、射頻)、頻率計、電源、臺式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……
通信測試測量儀器:光時域反射儀(OTDR)、光纖熔接機、光萬用表、光源、光電話、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測試儀、數(shù)字電纜分析測試
儀、電纜故障測 [
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