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        芯片與電子產品驗證測試創新藍圖(上)

        發布人:12345zhi 時間:2022-12-26 來源:工程師 發布文章

        跟上變化的步伐

        數字世界比以往任何時候都更加緊密相連,發展速度更快。從增強現實和虛擬現實到人工智能(AI),幾十年前僅在虛構中存在的技術現在已成為我們日常生活的一部分。這些顛覆性創新在以下兩個主要方面推動測量科學向前發展:

        (1)快速發展的創新速度令產品上市時間更加局促、緊迫;

        (2)測量本身的復雜性越來越高,這是由于需要在更復雜的設計上擴大測試覆蓋范圍。

        想一想那些徹底改變工程師設計和測試產品方式的技術進步,雖然創新將工程企業推向新的現實,但變革帶來了全新的挑戰。這對工程師而言是一個獨特的機會,他們可以重新構想產品開發流程,從而對世界產生更大的影響力。

        跟上變化步伐的企業將擁有得天獨厚的市場優勢 。令人欣慰的是,滿足未來需求的工程工作流程比想象中更加容易。您能想到嗎?改變幾乎可以隨時隨地開始!

        新技術和應用需要更大的測試覆蓋范圍

        創新技術驅動了新興市場和成熟市場的商機 。新技術不僅幫助工程企業成長,而且改變了 這些企業設計和測試產品的方式,從而敦促他們在更短的時間內解決更復雜的問題。例如,在汽車和半導體行業,電氣化和自動駕駛越來越受歡迎,但它們需要更高體量的特性分析。這些行業需要在產品開發過程的不同階段實現自動化,從而節省時間并滿足市場需求。我們看到這種趨勢也影響到了直流和射頻信號領域。

        例如,I2C和SPI向MIPI I3C的演進證明了日益增加的設計復雜性如何使現有驗證實踐變得復雜。數字通信協議的這一新發展迫使工程師探索功能合規性檢查之外的領域。如果不能將以前的設計整合到新一代設備中,團隊將面臨著必須創建更復雜測量框架的挑戰,該框架必須能夠容納I3C增加的速度、復雜性和功能數量。針對完整的參數、功能、電壓和時序特性進行驗證會顯著增加測試成本。簡而言之,研究新的協議標準、設計適當的測量IP、開發用戶界面和報告結果需要大量時間。

        新功能可能對驗證造成影響:SPI、I2C和I3C比較

        新功能可能對驗證造成影響:SPI、I2C和I3C比較

        隨著協議的演變 ,工程團隊還必須適應更復雜的產品設計 。例如,10年前,對4G射頻前端模塊進行特性分析時,工程師可能只需要不到75個測試用例 。 天的5G前端模塊有600個測試用例,每個測試用例都有不同的無線電頻段 、載波帶寬和波形類型組合。從4G到5G的轉變顯然需要更大的測試覆蓋范圍和更復雜的測量。對于5G毫米波設備,采用封裝天線技術消除了訪問毫米波信號的物理連接。因此,許多5G毫米波設備需要一種全新的測試方法,即空口測試。此外,與當今的5G設備相比,主要的5G Advanced增強功能,例如增加網絡(無線和非地面)之間的共存和演進的雙工,可能會使設計復雜性增加2倍。

        5G Advanced繼續推動移動復雜性

        5G Advanced繼續推動移動復雜性

        本篇闡述了測試趨勢變化的市場因素,下一篇將為小伙伴們厘清這一過程中的諸多挑戰。

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        關鍵詞: i2c spini 測試測量

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