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        EEPW首頁 >> 主題列表 >> 嵌入式存儲器

        嵌入式存儲器 文章 進入嵌入式存儲器技術社區

        嵌入式存儲器的過去與現在

        • 近期臺積電技術長孫元成在其自家技術論壇中,首次揭露臺積電研發多年的eMRAM(嵌入式磁阻式隨機存取存儲)和eRRAM(嵌入式電阻式存儲器)將分別訂于明后年
        • 關鍵字: 嵌入式存儲器  MRAM  eRRAM  物聯網  

        嵌入式存儲器的測試及可測性設計

        • 本文對嵌入式存儲器的測試及可測性設計進行研究總結,為我國存儲器測試的研究以及集成電路測試產業的發展奠定堅實的技術基礎。
        • 關鍵字: 嵌入式存儲器  測試向量  可測性  

        IoT商機滾滾 嵌入式存儲器需求暢旺

        • 物聯網(IoT)發展熱潮將推升嵌入式記憶體需求。行動裝置、汽車、工業等機器對機器(M2M)裝置對固態硬碟需求持續攀升,加上嵌入式系統因應巨量資料(Big
        • 關鍵字: 嵌入式  IoT  嵌入式存儲器   

        ASIC和SoC設計中嵌入式存儲器的優化

        • 電子產品世界,為電子工程師提供全面的電子產品信息和行業解決方案,是電子工程師的技術中心和交流中心,是電子產品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網絡家園
        • 關鍵字: ASIC  嵌入式存儲器  SoC  IP  

        嵌入式存儲器的測試及可測性設計研究

        • 引言 近年來,消費者對電子產品的更高性能和更小尺寸的要求持續推動著SoC(系統級芯片)產品集成水平的提高,并促使其具有更多的功能和更好的性能。要繼續推動這種無止境的需求以及繼續解決器件集成領域的挑戰,最
        • 關鍵字: 嵌入式存儲器  測試  可測性設計    

        測試嵌入式存儲器的標準技術

        • 隨著SoC設計向存儲器比例大于邏輯部分比例的方向發展,高質量的存儲器測試策略顯得尤為重要。存儲器內置自測試(BIST)技術以合理的面積開銷來對單個嵌入式存儲器進行徹底的測試,可提高DPM、產品質量及良品率,因而正
        • 關鍵字: 測試  標準  嵌入式存儲器    

        通過嵌入式存儲器測試和修復解決良品率問題

        • 關鍵字:存儲器測試系統級芯片(SoC)中存儲器容量的增加以及嵌入式存儲器支配整個裸片良品率的事實,使良品率設計(DFY)面臨日益嚴峻的挑戰,特別是在新興的90nm和65nm半導體技術領域。由于嵌入式存儲器容易產生較高的
        • 關鍵字: 嵌入式存儲器  測試    

        飛索轉型求生存 鎖定嵌入式存儲器

        •   NOR Flash產業昔日霸主飛索(Spansion)在脫離破產保護后,積極進行大反撲,除了快速處理掉2座晶圓廠賣給德州儀器(TI)外,在產品在線也做大幅度的調整,除鞏固車用NOR Flash產品線之外,也投入相當大資源在內嵌式NOR Flash領域,這部分一直是飛索最擅長同時也是成長性最高的一塊市場,包括工業領域、個人計算機(PC)等市場,未來內嵌式NOR Flash產品的成長性相當強勁。   飛索表示,除了已耕耘20年的車用NOR Flash產品線外,飛索也會把大量資源放在內嵌式產品上,這會是未
        • 關鍵字: 飛索  嵌入式存儲器  NOR  

        華虹NEC兩項新技術榮獲2009年度中國半導體創新產品和技術獎

        •   2010年中國半導體市場年會于2010年3月9日至10日在上海召開。大會公布了由中國半導體行業協會、中國電子材料行業協會、中國電子專用設備工業協會、中國電子報等單位共同評選出的 “第四屆(2009年度)中國半導體創新產品和技術”獲獎結果,上海華虹NEC電子有限公司(以下簡稱“華虹NEC”)的“0.13微米SONOS嵌入式存儲器工藝技術”和“芯片超級同測技術(SCT)”兩個項目分獲殊榮。   華虹NEC的0
        • 關鍵字: 華虹NEC  嵌入式存儲器  晶圓測試  

        華虹NEC參加2010中國半導體市場年會

        •   以“洞悉變革趨勢,把握復蘇契機”為主題的2010年中國半導體市場年會于2010年3月9日至10日在上海召開。大會圍繞“經濟回暖與市場復蘇”、“產業變革與企業創新”、“兩化融合與新興市場”和“新型顯示與物聯網”等主要議題進行了深入探討。上海華虹NEC電子有限公司(“華虹NEC”)總裁兼首席執行官邱慈云博士和市場副總裁高峰先生應邀出席了此次會議。   本次年會還
        • 關鍵字: 華虹NEC  物聯網  嵌入式存儲器  

        一種改進的嵌入式存儲器測試算法

        • 基于一種適合于測試靜態簡化故障的March SS算法,提出了一種改進的嵌入式隨機存取存儲器測試算法-March SSE算法。
        • 關鍵字: 嵌入式存儲器  測試  算法    

        嵌入式存儲器的設計方法和策略

        • 本文介紹的設計方法包括設計概念、網表的建立、設計、布線以及存儲器模塊的驗證,該方法可確保存儲器模塊在嵌入SoC時能有效地工作。
        • 關鍵字: 嵌入式存儲器  策略  設計方法    
        共12條 1/1 1

        嵌入式存儲器介紹

          嵌入式存儲器是在嵌入式微處理器片上集成的存儲器,用來做代碼或其他需要長久數據的存儲。嵌入式存儲器采用的是類似計算機的設計方法,差異主要體現在體積、功耗、價格和嵌入式處理器的存儲器大小及可擴展性等。  (1)易失性  易失性是區分存儲器種類的重要外部特性之一。易失性是指電源斷開后,存儲器的內容是否丟失,如果某種存儲器在斷電后,仍能保持其中的內容,則稱為非易失性存儲器。否則,就叫易失性存儲器。對于 [ 查看詳細 ]

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