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        新的失效保護方法

        作者: 時間:2009-06-18 來源:電子產品世界 收藏

          解決方案

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/95416.htm

          該解決方案是實現一個能夠仿真的I2-t特性的智能電路保護算法。這個概念可轉化為“曲線下面積”。在下圖(圖 7)中,曲線下面積(A區)是保護算法的I2-t界限內。B區所示是在一段時間內的恒定超負載條件,其中,超負載電流小于智能開關的限流值。在這個圖中,當限流值超過曲線時,智能開關不會被閉鎖。當B區突破A區時,器件閉鎖。 這個原則適用于超負載在開關激活后存在很長時間的狀況。

          圖7:超負載與功率限制區比較



        關鍵詞: ST BCM 熔斷器

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