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        復雜RF環境下的RFID測試挑戰

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        作者:Louise Parker 泰克公司 時間:2009-06-15 來源:電子產品世界 收藏

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/95266.htm

          由于從標簽(T)到閱讀器 (R) (表示為T→R)的上行方向從詢問器的CW信號中調制,因此可以使用擴頻技術,如跳頻。在接收機零差下變頻中,任何詢問器信號的擴展或跳頻會被自動刪除,因為它們共享相同的本振(LO)信號。

          當存在多個標簽、多個閱讀器和干擾時,這個簡單的系統會變得更加復雜。讓我們看一下來自這些情況下的兩個ID設計挑戰。

          多個閱讀器和密集模式環境

          無源ID標簽的寬帶特點也給密集的(多個)閱讀器站點帶來了某些挑戰。由于標簽閱讀器確定了系統的工作頻率,且標簽是對任何閱讀器進行應答的寬帶設備,因此標簽對某個特定閱讀器的應答能力有限。無源標簽可能會試圖對所有發出詢問的閱讀器做出應答。

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