- 亞微米互補金屬氧化物半導體(CMOS)的最新發展，可望進一步擴展RFID技術的應用。高精度供應鏈管理、無接觸POS交易、防偽和資產追蹤/監測技術所帶來的各項優勢，正推動著RFID技術的迅速普及。但是，這種新技術自身也面臨著許多測試挑戰。本文討論復雜RFID工作環境中的測試挑戰，包括多個閱讀器、密集模式環境和預先存在的非RFID信號可能引起的吞吐量和通信問題。
- 關鍵字：
泰克 RF RFID 工作環境 米勒調制副載波 任意波形發生器 實時頻譜儀 200906
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