米勒調(diào)制副載波 文章 最新資訊

復(fù)雜RF環(huán)境下的RFID測試挑戰(zhàn)

• 亞微米互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)的最新發(fā)展，可望進(jìn)一步擴(kuò)展RFID技術(shù)的應(yīng)用。高精度供應(yīng)鏈管理、無接觸POS交易、防偽和資產(chǎn)追蹤/監(jiān)測技術(shù)所帶來的各項(xiàng)優(yōu)勢，正推動(dòng)著RFID技術(shù)的迅速普及。但是，這種新技術(shù)自身也面臨著許多測試挑戰(zhàn)。本文討論復(fù)雜RFID工作環(huán)境中的測試挑戰(zhàn)，包括多個(gè)閱讀器、密集模式環(huán)境和預(yù)先存在的非RFID信號(hào)可能引起的吞吐量和通信問題。
• 關(guān)鍵字： 泰克  RF  RFID  工作環(huán)境  米勒調(diào)制副載波  任意波形發(fā)生器  實(shí)時(shí)頻譜儀  200906