一種數字集成電路測試系統的設計 —— 作者：西安交通大學廉海濤張克農王紅雨趙云鵬常羽飛 時間：2005-11-02 來源： 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 摘要:介紹了一種數字集成電路測試系統的工作原理、組成。提出了系統的軟硬件設計方案。該系統基于自定義總線結構，可測試電平范圍寬。 關鍵詞:數字集成電路測試功能測試通道板精密測量單元 隨著數字集成電路的廣泛應用，測試系統就顯得越來越重要。在網絡化集成電路可靠性試驗及測試系統項目中，需要檢驗某些具有寬電平范圍的軍用數字集成電路芯片，而市場上常見的中小型測試系統可測電平范圍達不到要求，而大型測試系統價格昂貴。本文介紹了為此項目研制的一種數字集成電路測試系統，可測電平范圍達
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