JTAG測試(05-100)

　　現在,邊界掃描技術可用于以器件為中心方式的測試中,使得在開發、調試和生產測試環境中采用JTAG(聯合測試行動組)測試技術。

　　JTAG技術是指每個器件引腳的測試點都建在器件內,并把這些測試點連接到5-Wire串行總線上。可以在簡單的PC機上進行測試開發和執行測試。這種測試技術的特點是：

　　·PC成為完整的測試系統;

　　·成本低,開發時間短及通用硬件。隨著元件封裝密度繼續增加,測試和調試的物理接入正在減少。幾年前就預見JTAG邊界掃描測試能解決此問題,但是,當時只有少量器件符合JTAG。現在,解決測試接入問題已取得進展,用JTAG作為解決問題的技術,正在使人們更加關注,使得半導體廠家在不斷地推出JTAG依從器件。

 

　　圖1 開發系統流程圖

　　避免用探針探測

　　對于區域陣列互連的表面貼裝器件(如BGA、微型BGA封裝以及芯片規模封裝)采用針床測試產品是困難的,避免用測試工具進行探針探測。

　　JTAG能提供一種解決方案,但是,第一代JTAG測試開發是以板為中心方法,這意味著任何板變化在對修改的板進行測試前,也需要新的測試向量。這不適合于開發工作,在開發工作中,短時間內設計要多次改變。

　　然而,把元件邊界掃描描述語言(BSDL)文件與板排線表列和測試描述結合起來,通過板本身的地址和數據總線,對安裝在板上的很多器件(不管它們是JTAG依從與否)接入是可以的。

　　一個特殊器件的BSDL文件通常可從供應商免費得到。另一方面,用高級語言可容易地寫測試描述。自動化工具可以快速地接入JTAG和非JTAG元件,用BSDL文件,板排線表列和測試描述作為輸入數據。這允許在開發環境中容易修正測試。此外,以后每次器件用在項目中時,可以從庫中重新調出和重新使用BSDL文件和測試描述。