如何降低測試系統開關噪聲(04-100)
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但是，希望增加開關密度，在一個較小的封裝內能提供更多能力。當今被測系統趨于更復雜和具有更多的點線。所以，測試工程師面對增加元件密度和同時增加通道間距離的困難。
本文引用地址：http://www.104case.com/article/81053.htm在某種情況下，對一個噪聲問題的解決方案，對待不同的噪聲問題可能會降低方案的有效性。必須很好的了解噪聲源、耦合方法和噪聲接收器，以便對這些因素做適當的折衷考慮。
根據經驗，導線直徑40倍的物理分離距離將衰減噪聲8dB左右。導線間更大的分離幾乎沒有影響。
樹形開關
樹形開關分離彼此的開關列，這對于降低大系統中雜散斷開開關電容是相當有效的，這種雜散電容是連接系統中未用并聯繼電器所引起的。如圖2所示，樹形開關置在左邊H、L、G線和左邊16通道的3列之間。引入的繼電器與輸入繼電器串聯可降低這種雜散電容。
對于16通道多路開關，這種串聯開關配置能有效地降低測量電路的雜散電容。這使串擾小、測量建立時間快。
T形開關
T形開關是把所有未用通道與測量總線隔離，用低電容通路到地。這種隔離是在單導線上實現的，在信號通路中插入2個另外的接點。結果在高頻具有良好的通道間信號隔離。
T形開關原理說明示于圖3。圖中所示上面的源VN與負載電阻斷開，這是因為開關A和B是新斷開的，開關C是閉合的。因此，開關的T部分有效地并接到地。然而，在另一個位置具有相應觸點的下部源VS連接到負載R2。
降低開關電容和耦合噪聲的另一方法是使開關和開關觸點間隙大或使觸點面積特別小。例如，Agilent 876A同軸SPDT開關在其開關動作中利用非常長的接入。這使斷開觸點間隙最大。此開關是封裝在精密的金屬殼中，以保證大于18GHz的信號完整性。
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