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        電子基礎知識:開關電源設計知識介紹二

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        作者: 時間:2007-09-26 來源:中國SMD資訊網 收藏

          在一定的應力水平下,元器件的失效率會大大下降。為剔除不符合使用要求的元器件,包括電參數不合格、密封性能不合格、外觀不合格、穩定性差、早期失效等,應進行篩選試驗,這是一種非破壞性試驗。通過篩選可使元器件失效率降低1~2個數量級,當然篩選試驗代價(時間與費用)很大,但綜合維修、后勤保障、整架聯試等還是合算的,研制周期也不會延長。電源設備主要元器件的篩選試驗一般要求:

            ①電阻在室溫下按技術條件進行100%測試,剔除不合格品。

            ②普通電容器在室溫下按技術條件進行100%測試,剔除不合格品。

            ③接插件按技術條件抽樣檢測各種參數。

            ④半導體器件按以下程序進行篩選:

            目檢→初測→高溫貯存→高低溫沖擊→電功率老化→高溫測試→低溫測試→常溫測試篩選結束后應計算剔除率Q

            Q=(n/N)



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