電子基礎(chǔ)知識(shí)：開(kāi)關(guān)電源設(shè)計(jì)知識(shí)介紹二

　　在一定的應(yīng)力水平下，元器件的失效率會(huì)大大下降。為剔除不符合使用要求的元器件，包括電參數(shù)不合格、密封性能不合格、外觀(guān)不合格、穩(wěn)定性差、早期失效等，應(yīng)進(jìn)行篩選試驗(yàn)，這是一種非破壞性試驗(yàn)。通過(guò)篩選可使元器件失效率降低1～2個(gè)數(shù)量級(jí)，當(dāng)然篩選試驗(yàn)代價(jià)(時(shí)間與費(fèi)用)很大，但綜合維修、后勤保障、整架聯(lián)試等還是合算的，研制周期也不會(huì)延長(zhǎng)。電源設(shè)備主要元器件的篩選試驗(yàn)一般要求：

    ①電阻在室溫下按技術(shù)條件進(jìn)行100％測(cè)試，剔除不合格品。

    ②普通電容器在室溫下按技術(shù)條件進(jìn)行100％測(cè)試，剔除不合格品。

    ③接插件按技術(shù)條件抽樣檢測(cè)各種參數(shù)。

    ④半導(dǎo)體器件按以下程序進(jìn)行篩選：

    目檢→初測(cè)→高溫貯存→高低溫沖擊→電功率老化→高溫測(cè)試→低溫測(cè)試→常溫測(cè)試篩選結(jié)束后應(yīng)計(jì)算剔除率Q

    Q=(n/N)