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        Agilent Pro系列軟接觸無連接器邏輯分析儀

        作者:電子設計應用 時間:2004-07-02 來源:電子設計應用 收藏
        近日 公司(NYSE:A)宣布它的Pro系列軟觸無邏輯分析儀探頭接口已被邏輯分析儀廠商采納為工業標準。這種基于軟接觸無探測技術的標準接口是在公共覆蓋區中排列的探頭連接盤陣列,它可用多家廠商的設備進行探測。現在,計算機、半導體和通信行業的工程師將能得益于這種無探測,而不再需要選擇相競爭的無連接器探頭接口。

        這種新的 Pro系列軟觸無連接器邏輯分析儀探頭的覆蓋區要比原先的軟接觸探頭小30%。該Pro系列探頭采用與先前型號相同的專利微彈簧引針技術,以提供業內最可靠的性能。Agilent微彈簧引針技術采用4點冠狀觸針,它能穿透電路板上的任何污染物,并提供冗余兩個以上的接觸點,實現最高的可靠性。這種新的、易于使用的頂端固定模塊可適應不同的電路板厚度。這些探頭是兼容適用于有機覆銅這樣的無鉛覆層——支持電子工業向無鉛產品化過渡的產品,如有機覆銅這樣的無鉛覆層,以及同時適用于常用的金、銀和熱風表面處理其它覆層,包括金、銀和熱風表面處理的唯一一種邏輯分析儀探頭。這在業內是唯一的。

        Agilent設計驗證部副總裁兼總經理Ron Nersesian說:“我們的客戶已經認識到軟觸無連接器探頭可靠性、易用性和空間節省所帶來的好處,但也反映缺乏標準無連接器邏輯分析儀接口所造成的麻煩。Agilent經驗證的軟觸探頭技術從推出以來已被業內廣泛接受,并成為新的公共接口技術。我們在開發這一新標準中與客戶及其他邏輯分析儀廠商有著密切的協作。”

        Agilent軟觸探頭能實現探頭與印制電路板上目標的直接連接,而不需要使用連接器。這就減小了電容性負載,也把探頭對系統性能的影響減到最小,這是工程師使用今天高速技術,如雙數據率(DDR)和PCI Express開發產品中的重要考慮。無論被測信號速度如何,都無需在目標上放置連接器,從而簡化了設計的驗證工作,尤其是那些空間緊湊或要求最小信號干擾的設計信號路由設計的驗證。

        Agilent的全部邏輯分析儀產品線是能提供都支持全部邏輯分析儀產品線無連接器探測,這是業內的唯一廠商。E5404A軟接觸探頭測量單端數據和時鐘,可由供任何帶40針電纜連接器的Agilent邏輯分析儀使用。E5405A探頭支持差分數據和時鐘,E5406A支持單端數據和差分時鐘,這兩種探頭都可由供任何帶90針電纜連接器的Agilent邏輯分析儀使用。



        關鍵詞: Agilent 連接器

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