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        手機(jī)靜電放電抗擾度影響

        作者: 時(shí)間:2012-06-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        1 引言

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/260140.htm

        作為無線通信產(chǎn)品中應(yīng)用最廣泛、最貼近人民生活的數(shù)字蜂窩通信產(chǎn)品,在國(guó)內(nèi)是人們主要的通信工具。因此,為保證性能,解決問題,使得手機(jī)的測(cè)試顯得越來越重要。本文介紹了手機(jī)測(cè)試的要求和方法, 總結(jié)分析了手機(jī)試驗(yàn)的主要失效現(xiàn)象和模式, 可供手機(jī)試驗(yàn)及提高手機(jī)抗靜電能力設(shè)計(jì)時(shí)參考。

        2 手機(jī)靜電放電的方法及要求

        雖然在進(jìn)行不同制式的手機(jī)電磁兼容測(cè)試時(shí),可以選擇不同的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),但依據(jù)的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)是相同的。對(duì)手機(jī)進(jìn)行電磁兼容測(cè)試,出現(xiàn)問題的主要項(xiàng)目有:靜電放電抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度、傳導(dǎo)騷擾和輻射騷擾。以下主要針對(duì)900/1 800 MHz GSM 手機(jī)的靜電放電抗擾度試驗(yàn)及其問題展開討論。

        電磁兼容測(cè)試中靜電放電抗擾度()抗擾性是產(chǎn)品的一個(gè)關(guān)鍵指標(biāo),也是產(chǎn)品主要不合格項(xiàng)目之一。 抗擾性低時(shí),產(chǎn)品不適用于相對(duì)濕度低的環(huán)境使用,也不可避免地會(huì)影響產(chǎn)品的性能指標(biāo),產(chǎn)品更容易損壞,導(dǎo)致用戶對(duì)產(chǎn)品的認(rèn)可度下降。因此手機(jī)的 抗擾性已成為產(chǎn)品的主要指標(biāo)之一。

        手機(jī)ESD 測(cè)試實(shí)驗(yàn)布置如圖1 所示。

        2.1 手機(jī)工作狀態(tài)

        手機(jī)在電磁兼容測(cè)試過程中,有兩種典型的工作狀態(tài),即專用模式(通話狀態(tài)) 和空閑模式(待機(jī)狀態(tài))。

        a) 專用模式

        被測(cè)手機(jī)與基站模擬器通過空間鏈路建立并保持通信連接,通過把ARFCN 設(shè)置為一個(gè)適當(dāng)?shù)闹祦磉x定射頻輸入信號(hào)頻率。例如:對(duì)于GSM 900MHz,可選擇60~65 之間的值。基站模擬器命令被測(cè)手機(jī)工作在最大的輸出功率電平下。手機(jī)分別工作在充電狀態(tài)和電池供電狀態(tài)并進(jìn)行ESD 抗擾度試驗(yàn)。

        當(dāng)要求被測(cè)手機(jī)處于專用模式時(shí),應(yīng)滿足下列條件:

        1) 被測(cè)手機(jī)工作在最大的發(fā)射功率情況下;

        2) 監(jiān)視下行鏈路的RXQUL;

        3) 在測(cè)試之前,下行鏈路和上行鏈路的語音輸出信號(hào)的參考電平都應(yīng)記錄在測(cè)試儀器中(把被測(cè)手機(jī)的音量設(shè)成額定音量或中等音量);

        4) 被測(cè)手機(jī)下行鏈路的語音信道輸出信號(hào)在ERP 處的電平應(yīng)通過測(cè)量SPL 來評(píng)估;

        5) 在基站模擬器的模擬輸出口測(cè)量手機(jī)上行語音信道輸出的譯碼后的信號(hào)電平(使被測(cè)手機(jī)的麥克風(fēng)拾取的外來背景噪聲達(dá)到最小)。

        b) 空閑模式

        被測(cè)手機(jī)與基站模擬器通過空間鏈路連接,BCCH 信道激活,被測(cè)手機(jī)與基站模擬器保持同步,處于待機(jī)狀態(tài),手機(jī)分別工作在充電狀態(tài)和電池供電狀態(tài)進(jìn)行ESD 抗擾度測(cè)試。

        ESD 抗擾度測(cè)試是模擬手機(jī)在遭受到ESD 時(shí)其性能是否會(huì)下降或失效,放電分為直接放電和間接放電兩類。對(duì)導(dǎo)電表面采用直接接觸放電的方式,對(duì)絕緣表面采用空氣放電方式。接觸放電為首選形式,只有在不能用接觸放電的地方(如表面涂有絕緣層,手機(jī)非金屬鍵盤縫隙等情況)才改用空氣放電。

        2.2 測(cè)試過程中的性能監(jiān)測(cè)

        專用模式:被測(cè)手機(jī)與基站模擬器建立并保持通信連接,在加擾過程中,觀察被測(cè)手機(jī)是否維持通信連接。整個(gè)加擾過程結(jié)束后,觀察被測(cè)手機(jī)是否仍能保持通信連接,是否能正常工作,有無用戶可察覺的通信質(zhì)量的降低,有無用戶控制功能的喪失或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的丟失。

        空閑模式:觀察手機(jī)是否誤操作,試驗(yàn)結(jié)束后,觀察被測(cè)手機(jī)是否能正常工作,有無用戶可察覺的通信質(zhì)量的降低,有無用戶控制功能的喪失或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的丟失。

        具體試驗(yàn)點(diǎn)和試驗(yàn)條件見表1。

        表1 手機(jī)ESD 試驗(yàn)點(diǎn)和試驗(yàn)條件

        2.3 ESD 測(cè)試導(dǎo)致手機(jī)失效的現(xiàn)象

        ESD 測(cè)試產(chǎn)生失效的現(xiàn)象有兩種:一種是永久性失效,即導(dǎo)致手機(jī)損壞;另一種是軟失效,即測(cè)試結(jié)束后或重新啟動(dòng)手機(jī)后失效的功能可以恢復(fù)。

        ESD 測(cè)試過程中手機(jī)軟失效的現(xiàn)象有:

        1) 手機(jī)自動(dòng)關(guān)機(jī),重啟后能恢復(fù)工作;

        2) 手機(jī)通話中斷;

        3) 手機(jī)自動(dòng)重啟;

        4) 手機(jī)死機(jī),重啟后可恢復(fù)工作;

        5) 屏幕顯示異常,如屏幕顯示白屏、黑屏、屏幕顯示模糊、屏幕出現(xiàn)亂碼、或屏幕出現(xiàn)條紋等;

        6) 觸摸屏功能或按鍵功能喪失;

        7) 軟件出現(xiàn)錯(cuò)誤提示,如在充電器沒有插拔的情況下屏幕頻繁提示,“充電器已移除,充電器已連接”;

        8) 測(cè)試過程中通話質(zhì)量降低,聲音消失或斷續(xù)或出現(xiàn)嘯叫聲等。

        ESD 導(dǎo)致手機(jī)損壞的現(xiàn)象有:

        1) 自動(dòng)關(guān)機(jī)后不能再次開機(jī);

        2) 由于部分器件損壞,手機(jī)的某些功能已無法恢復(fù);

        3) 處于充電狀態(tài)測(cè)試時(shí),充電器發(fā)生損壞甚至爆炸等現(xiàn)象。

        筆者試驗(yàn)了213 批次手機(jī),其中ESD 試驗(yàn)不合格的有41 批次,不合格比例為19.2 %。試驗(yàn)結(jié)果表明,ESD 抗擾性是電磁兼容測(cè)試主要不合格項(xiàng)目之一。試驗(yàn)中失效最多的工作狀態(tài)為充電、專用模式,放電模式為空氣放電;失效點(diǎn)多集中在按鍵、接縫和LCD 顯示屏;出現(xiàn)失效現(xiàn)象頻率由高到低依次為:通話中斷;通話中斷,手機(jī)轉(zhuǎn)充電狀態(tài);手機(jī)自動(dòng)重啟;死機(jī),重啟后可恢復(fù)工作;試驗(yàn)過程中充電器壞或爆炸;死機(jī),試驗(yàn)后不能恢復(fù)工作;實(shí)驗(yàn)中白屏、死機(jī)、試驗(yàn)后不能恢復(fù)工作等。

        3 ESD 失效對(duì)策

        手機(jī)ESD 試驗(yàn)不合格,大部分是可恢復(fù)的暫時(shí)性功能失效,這些失效與手機(jī)抗靜電設(shè)計(jì)密切相關(guān),為了提高手機(jī)的抗靜電能力,可以從以下幾個(gè)方面進(jìn)行改進(jìn):

        1) 從結(jié)構(gòu)接地保護(hù)方面考慮,最好能實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)接地,間隙要小。接地點(diǎn)應(yīng)盡可能地多,縮短接地線長(zhǎng)度,結(jié)構(gòu)應(yīng)盡可能地密封;

        2) 敏感元件遠(yuǎn)離縫隙或固定開孔;

        3) 選用抗靜電等級(jí)較高的器件;
        4) 加大塑膠墊的面積,加長(zhǎng)靜電干擾路徑,削減ESD 對(duì)線路的影響;

        5) 保持地電流遠(yuǎn)離敏感電路及有關(guān)線路;

        6) 對(duì)于敏感器件,通過使用保護(hù)器件(如TVS、ESD 防護(hù)器件) 來加強(qiáng)保護(hù);

        7) 保持敏感器件與靜電源隔離;

        8) 減少回路面積,電源與地盡可能地近,走線盡可能地短,信號(hào)線盡可能地靠近地線。

        4 結(jié)束語

        本文介紹了手機(jī)電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及手機(jī)ESD 測(cè)試要求、方法和手機(jī)ESD 抗擾度試驗(yàn)的主要失效現(xiàn)象、模式的分析,明確了電磁兼容測(cè)試中ESD 抗擾性是影響手機(jī)合格的一個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)。希望本文能對(duì)關(guān)心手機(jī)的ESD 抗擾性的生產(chǎn)廠家和設(shè)計(jì)人員有所幫助,同時(shí)也引起那些對(duì)ESD 抗擾性不太了解的生產(chǎn)廠家和設(shè)計(jì)人員的重視。



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