通過先進的校準測試方法降低移動設備的成本
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傳統測試與現代測試
在80、90年代，移動設備的功能測試靠的是呼叫測試。測試中呼叫處理所需的時間在總測試時間中占據著很大部分。例如，對于每次呼叫來說，在測試之前CDMA移動設備的注冊和呼叫建立就需要30秒以上的時間。
除了基于呼叫的功能測試時間代價外，由于測試設備內部的處理能力的限制，也意味著在校準和功能測試階段中無法同時進行發射和接收測試。假定接收測試為10秒，而發射測試為4秒，該串行測試也會比并行測試多出40%的時間。
起初，環回比特誤差率(BER)測量目的是確定設備接收機功能是否正常。由于BER實質上采用的是統計方法，故需要發出大量的比特并進行測量。對如此多的比特進行測試等效于大量的測試時間，從而增加了額外的測試成本。先進的減少時間的測試策略包括：
* 采用接收/發射并行測試
* 省去功能測試階段中的呼叫
* 利用新的基于C/N的接收機測量來取代BER測量
* 采用快速校準模式
上述所有策略都要求在移動設備芯片中存在非標準測試模式。芯片中所實現的測試模式效率將實際影響OEM廠商工廠所需的投資。故采用較貴并具有較好校準和測試模式的芯片的產品設計在后續的制造階段將有效地節省成本。
制造測試流程
在傳統手機設備制造過程的開始階段，進入生產線的是裸板(PCB)，然后機器手將元器件和焊膏放置到電路板上，然后進行回流焊(對于反面重復上述流程)，其后是校準裝配好的PCB。在第二階段，將鍵盤，顯示器，以及其他的模組和元器件安裝到PCB上，隨后進行最后的測試。有時，在組裝好機殼和電池后還有進行語音呼叫測試，以確保在裝入用戶配件和發運前設備能正常工作。
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