層出不窮的信號發(fā)生器可有效節(jié)省測試時間

　　AWG5000的關鍵指標是由14位DAC分辨率確定的動態(tài)范圍。最大波形存儲能力是32M個采樣。兩路輸出經(jīng)設置可以為數(shù)字調(diào)制測試同時提供I和Q信號。

　　由于AWG5000具有寬頻率范圍和波形可編程功能，因此具有很大的靈活性，事實上它能實現(xiàn)任何形式的數(shù)字調(diào)制。加上其優(yōu)異的位分辨率，AWG5000非常適合用于DAC和模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)測試。對于DAC測試來說，從波形存儲器輸出到內(nèi)部DAC的14位并行數(shù)字字可以直接輸出。

　　泰克的另一款AWG7000提供10Gsamples/s的基本DAC采樣率。在兩個通道上采用交織技術后可以達到20Gsamples/s，從而實現(xiàn)10GHz的波形。輸出分辨率為10位。

　　AWG7000主要用于測試帶PCIExpress(PCIe)、SATA、Rapid-IO和以太網(wǎng)等接口的高速串行設備。其可編程特性可以讓用戶創(chuàng)建含有噪聲和其它損傷的波形，從而實現(xiàn)更具魯棒性的測試。

　　AWG5000和AWG7000都有相應的信號發(fā)生軟件。其中RFExpress用于實現(xiàn)數(shù)字調(diào)制波形創(chuàng)建，SerialExpress用于建立波形以測試高速串行接口和設備。還可以使用Matlab或LabVIEW等軟件。

　　射頻發(fā)生器

　　為了測試無線設備，工程師經(jīng)常求助于射頻(RF)發(fā)生器。這些發(fā)生器可以產(chǎn)生從10MHz到30GHz以上的信號。有兩種基本的射頻發(fā)生器，即連續(xù)波(CW)和矢量信號發(fā)生器(VSG)，兩者都具有某種形式的調(diào)制功能(圖4)。數(shù)字信號發(fā)生是最常見的，但也有一些模擬型號仍在使用。

　　射頻發(fā)生器常用于代替本地振蕩器(LO)。高穩(wěn)定和高精度的參考晶振可用來驅(qū)動PLL合成器。N倍分頻器通過前面板控制提供頻率選擇。PLL輸出送至用于保持恒定輸出信號的自動電平控制(ALC)電路。功放和可變衰耗器組成輸出電路。其它電路提供調(diào)制功能。

　　圖4：虛擬設備初始化工具。

　　射頻發(fā)生器通過某種相關電路讓調(diào)制信號改變壓控振蕩器(VCO)頻率或相位來實現(xiàn)FM和PM。AM則利用輸出電路中另外的可變衰耗器實現(xiàn)。

　　有些時候，工程師還會增加由混頻器和高頻LO組成的額外上變頻級電路來提高輸出范圍。例如釔鐵石榴石(YIG)VCO就是用來將信號轉(zhuǎn)換到近十千兆赫范圍的常用LO。

　　國家儀器(NI)公司的PXI-5652模塊化射頻發(fā)生器可以插入PXI機箱，與LabVIEW等軟件一起工作在虛擬儀器環(huán)境中(圖5)。它的頻率范圍是500kHz到6。6GHz。其它型號的頻率上限是1。3或3。3GHz。頻率上限為6。6GHz時的步距為4Hz，上限為1。3或3。3GHz時步距為1或2Hz。10MHz的內(nèi)部頻率標準提供最大±3ppm的精度。輸出阻抗是標準的50Ω。

　　圖5：NI的PXI-5652RFCW發(fā)生器。