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        Synopsys將用于Grade 0汽車應用的DesignWare NVM IP面積縮小75%

        —— 全新Trim NVM IP通過快速擦寫將NVM測試時間縮短3倍,同時仍然保證AEC-Q100品質
        作者: 時間:2014-07-09 來源:電子產品世界 收藏

        加速芯片和電子系統創新而提供軟件、知識產權(IP)及服務的全球性領先供應商新思科技公司日前宣布:其用于高壓工藝的 AEON Trim NVM IP開始供貨。與其它的NVM IP解決方案相比,該款全新的IP將面積縮小達75%,同時有助于降低汽車IC的成本和尺寸。該IP可用于標準的180納米5V CMOS和BCD工藝,而不需要額外的光罩或工藝步驟。 NVM IP支持Grade 0汽車應用所需要的寬溫度范圍,并且超過了品質標準要求。此外,與其它的NVM解決方案相比,其更快的擦寫時間將NVM測試時間縮短了3倍,使設計師能夠有效縮短生產測試時間,同時將汽車和工業芯片的測試成本降至最低。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/249472.htm

        “ZMDI強勁可靠的、符合的IC提供了先進的傳感器信號調節功能和可配置性,并且集成了 AEON Trim NVM IP,有助于確保高數據保持能力和高可靠性,同時最大限度地減少面積和測試時間,”ZMDI全球和戰略質量執行副總裁Michael J. Ohletz博士表示:“設計師需要為標準嚴苛和環境惡劣的汽車引擎蓋內環境挑選元器件,他們需要尋找經過驗證的、能夠可靠地承擔15年或以上關鍵安全功能的IP解決方案。ZMDI之所以選擇了的NVM IP,是因為該IP可以滿足我們極其嚴格的規格,以及我們都要生產可靠的、高質量的產品這一共同承諾。”

        隨著汽車IC市場的增長,設計師需要滿足面向汽車引擎蓋內極端環境的既定質量和可靠性標準,即使很小的IC也要考慮成本和尺寸因素。高壓工藝的DesignWare AEON Trim NVM IP憑借Grade 0級溫度范圍和15年以上的數據保持能力,使設計師能夠實現更嚴苛和對安全要求很高環境的應用。

        用于高壓工藝的DesignWare AEON Trim NVM IP包括特殊的測試模式,該模式提高了擦寫速度,并且將測試成本和測試時間降低達3倍。例如,該IP包括批量操作,使設計者能夠通過單次操作對整個陣列進行快速擦寫。此外,設計者可以選擇能夠模擬溫度效應的測試條件和測試標準,從而省去了對整個溫度范圍的測試。

        “開發汽車IC的設計師們越來越希望NVM IP供應商能夠支持Grade 0級汽車溫度范圍和標準,同時降低IP面積和測試時間,” IP和原型設計營銷副總裁John Koeter表示:“ DesignWare AEON Trim NVM IP能夠滿足或超過他們在各個方面的期望值。帶有DesignWare NVM IP的IC每年的發貨量超過了5億片,Synopsys在提供高質量IP的成功記錄,使設計師能夠滿足行業對更小尺寸、更低成本和高性能IC的要求。”



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