面向有挑戰(zhàn)性功能塊的時(shí)序收斂技術(shù)

步驟4
我們可對步驟1中加亮I/O密度的腳本進(jìn)行修改，用于加亮繞障I/O密度。當(dāng)將一個(gè)網(wǎng)路分為多個(gè)小段的進(jìn)行計(jì)算時(shí)，首先要在已發(fā)現(xiàn)的繞障網(wǎng)路名單中進(jìn)行過濾，且只計(jì)算名單中有的那些網(wǎng)路。由于過濾后引腳數(shù)將會(huì)大大降低，因此設(shè)計(jì)師需要調(diào)整每個(gè)分色的閾值。最終結(jié)果見圖4。

步驟5
圖4證明了白色區(qū)域具有最多繞障的I/O網(wǎng)路。這建議我們：
1.移動(dòng)大型宏，這是塊設(shè)計(jì)師可執(zhí)行的最直接動(dòng)作。
2.最高層分配引腳時(shí)降低白色/紅色區(qū)域的引腳密度，這需要最高層設(shè)計(jì)師與功能塊設(shè)計(jì)協(xié)作進(jìn)行。

通常，這些大型宏被設(shè)置在那個(gè)地方肯定有其原因存在，因此在一些實(shí)際項(xiàng)目中重新分布模型引腳這種方式要更為切實(shí)可行。

這只是“如何將我們的經(jīng)驗(yàn)轉(zhuǎn)換為可視化檢查”的一個(gè)例子。設(shè)計(jì)師不僅可對這種繞障I/O進(jìn)行可視化處理來作為潛在問題預(yù)測指標(biāo)，而且還可根據(jù)已經(jīng)過證明的設(shè)計(jì)相關(guān)經(jīng)驗(yàn)，將其它因素加入到可視化檢查中來。

第III章：時(shí)鐘門控克隆階段選擇

一般來說，執(zhí)行時(shí)鐘門控克隆一共有2個(gè)階段：fix cell（修復(fù)單元）和fix clock（修復(fù)時(shí)鐘）；設(shè)計(jì)師還可同時(shí)在兩個(gè)階段進(jìn)行克隆。因此在此提出了3種組合：
1.只fix cell階段克隆
2.只fix clock階段克隆
3.兩個(gè)階段同時(shí)克隆

如果是只fix cell階段克隆，那么設(shè)計(jì)師可采用命令“run clock gate_clone”在第一次全局布局/布線后執(zhí)行克隆；相關(guān)配置可通過“force clock gate_clone”命令來完成。不過完成克隆后，‘force clock gate_clone’設(shè)置的約束將變?yōu)闊o效；如再需要fix cell階段克隆，那么設(shè)計(jì)師還要重新應(yīng)用這些設(shè)置。

作者以幾個(gè)功能塊為例，對這3種方法進(jìn)行了一次測試，通過比較結(jié)果來找出適合其中多數(shù)功能塊的最佳方案。

表1是測試結(jié)果，要點(diǎn)如下：
1.黃色數(shù)據(jù)是一個(gè)功能塊的最好TNS，綠色數(shù)據(jù)是最佳區(qū)域。
2.第2種方法帶來了適合大部分案例的最佳結(jié)果，包括最好TNS和最佳區(qū)域。

什么樣差異會(huì)導(dǎo)致這樣的結(jié)果？圖5是功能塊一個(gè)角點(diǎn)的時(shí)鐘門控單元分布：