為什么要發(fā)展測試友好技術

過去，若某一產(chǎn)品在上一測試點不能測試，那么這個問題就被簡單地推移到直一個測試
點上去。如果產(chǎn)品缺陷在生產(chǎn)測試中不能發(fā)現(xiàn)，則此缺陷的識別與診斷也會簡單地被推移到
功能和系統(tǒng)測試中去。

相反地，今天人們試圖盡可能提前發(fā)現(xiàn)缺陷，它的好處不僅僅是成本低，更重要的是今
天的產(chǎn)品非常復雜，某些制造缺陷在功能測試中可能根本檢查不出來。例如某些要預先裝軟
件或編程的元件，就存在這樣的問題。（如快閃存儲器或ISPs：In-System Programmable
Devices 系統(tǒng)內(nèi)可編程器件）。這些元件的編程必須在研制開發(fā)階段就計劃好，而測試系統(tǒng)
也必須掌握這種編程。

測試友好的電路設計要費一些錢，然而，測試困難的電路設計費的錢會更多。測試本身
是有成本的，測試成本隨著測試級數(shù)的增加而加大；從在線測試到功能測試以及系統(tǒng)測試，
測試費用越來越大。如果跳過其中一項測試，所耗費用甚至會更大。