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        近場天線測試系統解決大型暗室測試難題

        作者: 時間:2013-09-28 來源:網絡 收藏
        uto; orphans: 2; widows: 2; webkit-text-stroke-width: 0px">  下圖所示1950MHz時結果與第4頁700MHz時結果相同。圖4中每幅圖分別列有Hx振幅,Hy振幅,Hx相位和Hy相位。

          近場天線測試系統解決大型暗室測試難題

          圖4: 1950MHZ時電磁場(H-Field)

          運用同樣后期的處理技術和定制程序把1950MHz時的近場測試結果處理轉化為遠場結果(如下圖5)。我們注意到這兩個波長結果圖與700MHz時波長結果圖有相似之處,但1950MHz的波長光速更窄,水平方向不像700MHz波長結果圖所顯示的那么全方位。

          圖5:1950MHZ輻射圖VS產品說明書中數據

          圖5:1950MHZ輻射圖VS產品說明書中數據

          注:Φ=0°是垂直截面,Φ=90°是水平截面

          結論:近場的優勢

          所有移動服務運營商都面臨測試大型基站天線的問題。測試這種天線需要配有特殊性能極大且昂貴的全電波暗室。對于這些運營商來說,RFX2天線特性測試系統解決了在測試的難題,即高的讓人望而卻步費用及耗時的測試過程。

          關于RFX2系統

          桌面掃描儀使天線具備了不需要暗室的屬性。RFX2不到2秒生成遠場天線圖案、雙側測試、EIRP和TRP。獲得的近場結果包括幅度、極性和相位傳遞,幾乎可以使人們瞬時洞察天線的根本性能。這套系統也支持天線設計分析人員支控制天線遠場輻射問題。

        關于RFX2天線測試系統  

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