天線測試方法的選擇及評估
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隨著對頻率低至100MHz的天線測量的興趣與日俱增，天線測試工程師理解各種天線測試方法(如錐形微波暗室)的優勢和局限的重要性就愈加突出。在測試天線時，天線測試工程師通常需測量許多參數，如輻射方向圖、增益、阻抗或極化特性。用于測試天線方向圖的技術之一是遠場測試，使用這種技術時待測天線(AUT)安裝在發射天線的遠場范圍內。其它技術包括近場和反射面測試。選用哪種天線測試場取決于待測的天線。
為更好地理解選擇過程，可以考慮這種情況：典型的天線測量系統可以被分成兩個獨立的部分，即發射站和接收站。發射站由微波發射源、可選放大器、發射天線和連接接收站的通信鏈路組成。接收站由AUT、參考天線、接收機、本振(LO)信號源、射頻下變頻器、定位器、系統軟件和計算機組成。
在傳統的遠場天線測試場中，發射和接收天線分別位于對方的遠場處，兩者通常隔得足夠遠以模擬想要的工作環境。AUT被距離足夠遠的源天線所照射，以便在AUT的電氣孔徑上產生接近平面的波陣面。遠場測量可以在室內或室外測試場進行。室內測量通常是在微波暗室中進行。這種暗室有矩形的，也有錐形的，專門設計用來減少來自墻體、地板和天花板的反射(圖1)。在矩形微波暗室中，采用一種墻面吸波材料來減少反射。在錐形微波暗室中，錐體形狀被用來產生照射。
圖1：這些是典型的室內直射式測量系統，圖中分別為錐形(左)和矩形(右)測試場
圖2：在緊縮測試場，平坦波形是由反射測量產生
假設天線測試工程師想要在低頻下進行測量。國防部門對此尤感其興趣，因為他們需要研究諸如在低頻下使用天線等事項，以便更好地穿透探地雷達(GPR)系統中的結構(針對工作在400MHz范圍的射頻識別(RFID)標簽)，以及支持更高效的無線電設備(如軟件定義無線電(SDR))和數字遙感無線電設備。在這種情況下，微波暗室可以為室內遠場測量提供足夠好的環境。
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