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        理解ADC誤差對系統性能的影響(二)

        作者: 時間:2013-10-15 來源:網絡 收藏
        -text-stroke-width: 0px">采用內部或外部基準的的一個最大潛在誤差源是參考電壓。很多情況下,內置于芯片內部的基準通常都沒有足夠嚴格的規格。為了理解基準所帶來的誤差源,有必要特別關注一下三項指標:溫漂,電壓噪聲,和負載調整。

        溫漂

        溫漂是規格書中最容易被忽視的一項指標。下面的舉例可以說明溫度漂移是如何影響性能的(圖7)。對于一個12位轉換器,要在整個擴展級溫度范圍(-40°C至+85°C)內保持精度,最大允許的溫漂為4ppm/°C。不幸的是,沒有任何一個包含有這樣高性能的片內基準。如果我們放松要求,將溫度范圍限制于10°C以內,那么12位ADC的參考電壓最多允許25ppm/°C的溫度漂移,這對于片內基準來講仍然是相當嚴格的要求。即便進行多次樣機測試也不能發現這種誤差的嚴重性,因為所采用的元件通常都來自于同一批次。這樣,測試結果不能反映規格書中的極端情況,這主要是由于制造工藝的變化而導致。

        圖7. 電壓基準溫漂要求和ADC分辨率的關系

        對有些系統來講,參考電壓的精度不是一個大問題,因為溫度被保持于恒定,避免了溫度漂移問題。還有一些系統采用一種比例測量方式,用同一個信號激勵傳感器和作為參考電壓,可以消除基準引起的誤差(圖8)。因為激勵源和基準同時漂移,漂移誤差相互抵消。

        圖8. 比例式ADC轉換

        在其它系統中,采用補償手段消除基準漂移通常也很有效。另外也有一些系統并不關注絕對精度,而注重于相對精度。這樣的系統允許基準隨著時間緩慢漂移,同時又能夠提供期望的精度。

        電壓噪聲

        另外一個重要指標是電壓噪聲。它通常規定為RMS值或峰–峰值。要估計它對于性能的影響,需要將RMS值轉換為峰–峰值。如果一個2.5V基準在輸出端具有500μV的峰–峰電壓噪聲(或83μV RMS),該噪聲會帶來0.02%的誤差,或將限制于僅12位,而且這還沒考慮任何其它的轉換器誤差。理想情況下,基準的噪聲應該遠低于一個LSB ,這樣才不至于限制ADC的性能發揮。帶有片內基準的ADC通常都不規定電壓噪聲,這樣就將確定誤差的任務留給了用戶。如果你的設計沒有達到預期性能,而你又正在使用內置基準,可嘗試采用一個高性能的外部基準,這樣你就可以確定造成性能下降的真正元兇是否是內部基準。

        負載調整

        最后一項指標是基準的負載調整。用于ADC的電壓基準通常具有足夠的電流可用于驅動其它器件,因此有時也被其它IC使用。其它元件的吸取電流會影響到電壓基準,也就是說隨著吸取電流的增大,參考電壓會跌落。如果使用基準的器件被間歇性地打開和關閉,將會導致參考電壓隨之上升或下降。如果一個2.5V基準的負載調整率指標為0.55μV/μA,那就意味著當有另外一個器件吸取800μA電流時,參考電壓將會改變多達440μV,這將帶來0.0176%的誤差(440μV/2.5V),或占去現有誤差余量的幾乎20%。

        其它溫度效應

        接下來繼續討論溫度相關的問題,另外還有兩項指標通常很少有人關注,那就是失調漂移和增益漂移。這兩項指標一般只給出典型數值,用戶只能自己判斷它是否足以滿足系統要求。失調和增益的漂移可采用多種不同方法加以補償。一個辦法是仔細測出失調和增益漂移的完整數據,并在存儲器中建立一個表格,然后隨著溫度的變化調節測量值。然而,這是一項繁重的任務,因為每個ADC必須單獨補償,而且補償工序非常費時。第二個辦法是只在溫度發生顯著變化時才執行校準。



        關鍵詞: ADC 系統性能

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