使用時間可控發射方法來進行模擬電路的失效分析 作者： 時間：2013-11-30 來源：網絡 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 體管與D2S接口的部分不匹配將導致事件發生器增益的減少。 晶體管參數0.5%的不匹配就會對預期的波形產生影響。這對模擬電路非常重要，這也表明TRE能用于診斷模擬電路內部敏感的不匹配問題。這樣的晶體管不匹配將導致器件的失效并最終需要重新設計芯片。通過相應的掩模板修改和重新流片我們能生產出功能正常的芯片。 模擬電路文章專題:模擬電路基礎 上一頁 1 2 下一頁
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