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        是德科技參數測試解決方案

        作者: 時間:2024-03-21 來源: 收藏

        前沿技術要求在大批量制造中以較低的測試成本提供高性能半導體器件。Keysight通過4082A系統提供更高的吞吐量和卓越的測量性能,從4070測試儀遷移到最簡單的路徑,包括有保證的4070/SPECS程序兼容性和數據相關性。4082F閃存單元系統通過內置半導體脈沖發生器單元(SPGU)、經濟高效的脈沖發生器和可選的高頻開關矩陣提供快速精確的測量。解決方案加快產品上市和降低測試成本,包括:

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202403/456671.htm
        • 高測試吞吐量有助于降低您的測試成本

        • 克服研發和生產中的測試挑戰

        • 精確的低電平測量性能

        • 經過全球多個客戶實際驗證的參數測試解決方案

        • 技術嫻熟的工程師組成全球支持團隊

        • 成系列的解決方案確保較低的過渡成本

        Keysight 4080系列提供了基本參數測試所需的廣泛測量功能。您可以輕松地執行直流和電容測量,例如Vth、Ids、Idoff和Cox,僅舉幾個例子。4080系列支持用于DC的三種類型的SMU(源監視器單元)測量其他幾種儀器選項,如數字電壓表(DVM)、頻譜分析儀和LCR儀表,提供了增強的測量能力。

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        Keysight還提供解決方案支持和培訓作為專業服務,以更快地啟動,最大限度地提高您的生產力,并最大限度地減少系統停機時間。Keysight專家對測試設備、軟件、標準和法規有深入的領域知識。服務和 Keysight的解決方案提供了真正值得信賴的系統,您可以通過主動構建現場服務計劃(包括現場維修服務、遠程響應團隊、定時校準服務或及時的軟件更新)來依賴您所做的測量。

        詳細方案白皮書可以參考4080系列參數測試儀(點擊下載



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